基于我国强激光装置建设和工程任务需求，同济大学建立了基于纳秒与飞秒脉冲激光的自动化激光损伤阈值测试系统，该系统具有微米与亚微米级损伤的自动检测、定位复检、瞬态诊断和原位测量功能，测试流程基于ISO标准与光栅扫描等方法；此外，通过国际损伤阈值评测，实现了测量结果的国际对标。十多年来，利用该激光损伤阈值测试系统，我们系统研究了基板研磨与抛光工艺、超声清洗与表面残留、薄膜设计与大角度抑制、三维电场模拟与透镜聚焦效应、镀膜材料选择与氧化工艺、节瘤几何成型控制与平坦化、环境保持与传递控制、镀膜优化与辅助工艺、退火工艺与后处理技术、存放环境与人为污染等各类因素对激光损伤阈值的影响和作用规律；根据不同研究对象在不同参数和工作条件下的激光损伤特征，研究了激光损伤诱因、损伤演化及损伤机理；此外，基于泵浦-探测成像技术研究了透射元件的损伤动力学特性。激光损伤阈值表征与损伤溯源为课题组超高阈值和大尺寸激光薄膜器件的研制提供了关键的支撑技术，同时，为国内外数十家科研机构、高校院所和企业提供了高置信度的激光损伤阈值测试服务。

传统激光告警测试系统在测试校准过程中存在测试效率低的问题。经分析, 校准过程效率低的主要原因是完成测试所需的环境搭建及中途变更测试条件等工作占用大量时间。针对该问题, 提出了一种面向激光告警单元补偿标定的测试系统, 该装置通过LabWindows/CVI上位机软件控制气动机构, 根据测试需求变更测试条件, 同时控制激光器发射连续脉冲信号, 并与激光告警单元进行通讯接收上报信息, 以此实现激光告警单元的自动化补偿标定, 该测试系统能够有效提高激光告警单元的标定效率和测试安全性。

在实际生产中, 受制造工艺的影响, 芯片内部的基准电压模块会有一定的偏差。在芯片量产测试时, 需通过一种内嵌存储单元修调电路, 写入 trim code 来控制芯片内部电路, 从而对芯片的参数进行微调。在测试过程中存在一些因素导致测试失效, 需要进行复测提高良率。如果使用传统的方式进行一次性可编程 (OTP) 烧写, 由于量产测试时重复烧写, 会造成修调位错误烧写, 导致芯片失效。基于自动化测试设备 (ATE) 设计了一种改进的 OTP 修调算法, 测量初始电压、频率, 并经过测试修正得出最合适的 trim code, 在复测时避免了对芯片重复烧写 OTP。所提出方法提高了芯片测试良率, 降低了生产成本。通过对两片晶圆上 8000 颗 die 的测试结果进行分析, 验证了所提算法的可行性。

为实现红外图像坏元修正 FPGA（field programmable gate array）的快速验证，提高测试覆盖性，设计了基于 SV-DPI（SystemVerilog-direct programming interface）的 FPGA自动化验证平台。采用 DPI（direct programming interface）编程接口技术，实现了 SystemVerilog平台调用 C＋＋编程语言，构建了针对红外图像坏元数据的生成和检测修正模型，建立了两种语言在事务级（ transaction level）模型的通信。结果表明相对于传统验证方法，该平台结构简单，可以快速实现激励产生、参考模型构建、测试结果自动比对等功能，实现了红外图像坏元检测与修正 FPGA的自动化测试，功能覆盖率达到 100%，有效缩短 FPGA测试平台搭建和调试周期，提高了测试效率和测试质量。

调制光栅Y分支(MG-Y)可调谐半导体激光器能够实现宽波长范围的快速调谐,有望成为光纤传感应用中最有发展前景的光源之一。为了满足光纤传感应用中对于精细波长准连续调谐的需求,提出了一种基于样条插值的MG-Y型激光器的自动化测试技术。该方案充分利用了MG-Y激光器的调谐特性,通过左、右光栅反射区电流的粗扫描获取覆盖40 nm范围的平滑的调谐路径。将每一条路径内的左右光栅反射区电流组合对应的线性调谐段进行去重拼接后,可实现目标波长的快速插值检索。通过对半导体光放大器的电流和相位区电流的双重校准,实现了激光器在不同输出波长下的平坦功率。利用该技术构建了覆盖1527~1567 nm、波长间隔为8 pm的波长-电流查找表。该查找表的电流调谐路径平滑,功率波动小于0.2 dBm,可用于需要进行快速光谱采集的光纤传感应用中。

在多元红外探测器的测试过程中，传统方法往往通过分析仪采集并配合人工读数的方式来实现数据获取。分析仪与前置放大器、气源及工装夹具各自独立工作，采集的数据需要再次编辑且效率低下。为了实现精确的自动化工程测试，并同时实现气源与工装夹具等控制一体化，将丹麦B&K公司的PULSE多分析仪作为采集端，并利用VBA程序对采集控制软件进行了二次开发，从而实现了自动测试。分析了系统建立过程中的放大器噪声源，拟合了噪声系数与源阻抗之间的关系，并阐明了实现低噪声放大这一目标的关键是探测器和前置放大器的最佳源阻抗匹配。另外还将放大器的第一级设计成多通道并行，并在后级放大与第一级之间使用切换开关来保持通道的一致性。通过软硬件的结合最终实现了对探测器进行实时、多通道快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform，FFT)分析的自动化测试。

CCD图像传感器电极间漏电流是反映CCD器件可靠性的一个关键参数, 在CCD图像传感器的生产过程中, 对其电极间漏电流测试是一个重要的检测筛选环节。基于一种漏电流自动化测试方法, 设计了一种CCD电极间漏电流自动化测试系统。该系统可根据不同种类CCD器件, 自定义被测信号名称、测试通道地址和测试判据, 通过计算机软件控制自动循环扫描, 自动采集漏电电流数据, 形成标准测试报表。该系统具有设置灵活、操作方便、自动化测试等优点, 可有效提升CCD生产检查筛选过程中的测试效率和测试设备的通用性。

研制了基于气相可逆比色法的小型水样氨氮自动光学检测装置样机,该装置主要由样品室、测试室、自动进样模块和数据处理与控制电路组成。以不同浓度氯化铵水溶液作为氨氮样品测试了样机性能,建立了样机吸光度与氨氮浓度的线性依赖关系式;通过比较样机对氨氮标样的测试值和样品标准值,验证了样机的可靠性。研究结果表明,该样机能够在室温下对水样氨氮进行连续长时间的自动检测,具有较好的测试重复性,探测极限约为0.04 mg/L(以N计),低于国家标准对一类水的检测上限(0.15 mg/L,以N计)。该装置体积小,重量轻,成本低,功耗小,自动化程度高,无需对水样进行复杂预处理,适合水环境现场的快速检测。

设计了一套自动化测试系统, 该系统能方便地测试MEMS-VOA(基于微机电系统的可变光衰减器)的所有指标, 还可以实现光谱仪与偏振控制器的测试共享。通过编程, 能实时显示数据与绘制曲线, 并将数据自动存储到数据库。与标准的测试仪表相比, 该测试系统造价低廉, 准确度较高, 具有很高的应用价值。

随着软件开发规模的增大、复杂程度的增加, 软件测试变得越来越困难。自动化测试能够有效降低软件测试难度, 节约大量的人力、物力资源。根据软件自动化测试的概念和基本原理, 结合Silk Test测试工具和可扩展标记语言技术, 成功实现AutoCAD软件的自动化测试。实验使用了4Test程序语言编写自动化测试脚本，对AutoCAD软件进行了国际化测试与本地化测试, 通过运用元素和属性导航来查找信息的测试方法, 显著提高了结果比对的效率。依据最终良好的测试结果, 对软件自动化测试的必要性进行了分析。