作者单位
摘要
同济大学 物理科学与工程学院 精密光学工程技术研究所,先进微结构材料教育部重点实验室,上海市数字光学前沿科学研究基地,上海市全光谱高性能光学薄膜器件与应用专业技术服务平台,上海200092
基于我国强激光装置建设和工程任务需求,同济大学建立了基于纳秒与飞秒脉冲激光的自动化激光损伤阈值测试系统,该系统具有微米与亚微米级损伤的自动检测、定位复检、瞬态诊断和原位测量功能,测试流程基于ISO标准与光栅扫描等方法;此外,通过国际损伤阈值评测,实现了测量结果的国际对标。十多年来,利用该激光损伤阈值测试系统,我们系统研究了基板研磨与抛光工艺、超声清洗与表面残留、薄膜设计与大角度抑制、三维电场模拟与透镜聚焦效应、镀膜材料选择与氧化工艺、节瘤几何成型控制与平坦化、环境保持与传递控制、镀膜优化与辅助工艺、退火工艺与后处理技术、存放环境与人为污染等各类因素对激光损伤阈值的影响和作用规律;根据不同研究对象在不同参数和工作条件下的激光损伤特征,研究了激光损伤诱因、损伤演化及损伤机理;此外,基于泵浦-探测成像技术研究了透射元件的损伤动力学特性。激光损伤阈值表征与损伤溯源为课题组超高阈值和大尺寸激光薄膜器件的研制提供了关键的支撑技术,同时,为国内外数十家科研机构、高校院所和企业提供了高置信度的激光损伤阈值测试服务。
激光损伤 自动化测试系统 光栅扫描 人工缺陷 泵浦-探测 损伤演化 光学薄膜 laser damage automatic test system raster scan artificial defects pump-probe damage evolution optical thin film 
光学 精密工程
2022, 30(21): 2805
卢杰 1常乐 2,*陈益新 3姜云龙 2[ ... ]刘健 1
作者单位
摘要
1 南京理工大学 电子工程与光电技术学院,江苏 南京 210094
2 北方夜视技术股份有限公司,云南 昆明 650217
3 南京美乐威电子科技有限公司,江苏 南京 210094
荧光屏时间特性是评价像增强器性能的重要参数之一。微光像增强器纳秒级荧光屏余辉时间目前尚缺乏测试手段,基于传统像增强器余辉时间的测试方案,研制了纳秒级荧光屏余辉时间测试系统。该系统通过采样速率250 MHz的高速信号发生器完成对激光二极管光脉冲的激励,经由下降时间为0.57 ns的光电倍增管完成对荧光屏光信号的光电转换,μA量级的微弱光电流信号经放大及单端转差分电路,在AD9684中完成AD转换,随后荧光屏数字亮度信息经现场可编程门阵列(field programmable gate array, FPGA)后存储至DDR(double data rate)单元内,经上位机发出指令实现DDR内存的读取,通过USB3.0高速传输协议至上位机中。在数据处理中采用卡尔曼滤波及快速寻找下降沿算法,实现对采集数据的噪声滤波和余辉时间的准确测量。测试结果表明,该纳秒级荧光屏余辉时间测试系统可对具有超快光学特性的像增强器进行有效测试,P47型荧光粉的余辉测试结果达到118. 094 4 ns,重复度为2.08%。
像增强器 快速余辉 自动测试系统 卡尔曼滤波 现场可编程门阵列 image intensifier fast afterglow automatic test system Kalman filter field programmable gate array 
应用光学
2022, 43(6): 1130
作者单位
摘要
1 中航工业西安航空计算技术研究所,西安 710068
2 西安电子科技大学,西安 710071
以民用飞机电源系统为背景,针对电源系统控制器的功能和工作模式,建立了该产品的通用自动测试系统(GPATS),阐述了GPATS平台软件的选择依据,并对GPATS的设计方案和具体的实现方法进行了分析和描述。
电源系统控制器 通用自动测试系统 测试程序集 民用飞机 power-supply control equipment General-Purpose Automatic Test System (GPATS) test program set civil aircraft 
电光与控制
2016, 23(1): 44
作者单位
摘要
1 中国电子科技集团公司光电研究院, 天津 300000
2 国营第七二二厂, 广西 桂林 541001
针对电子设备的测试需求、系统开放性和可扩展的要求, 开发了一种基于PXI 总线的自动测试系统。详细说明了此系统的硬件构成和软件设计方法。该系统以PXI 内嵌主控计算机为核心, 以LabVIEW 软件为开发环境, 并综合运用标准接口和总线技术来实现系统的综合设计。系统具有良好的人机交互界面, 在使用过程中运行稳定可靠、测试效率高、使用维护方便。
自动测试系统 PCI extensions for instrumentation (PXI) PXI LabVIEW LabVIEW automatic test system (ATS) Visual C++ Visual C++ 
光电技术应用
2014, 29(3): 44
作者单位
摘要
Department of Information and Communication, Tianjin Polytechnic University, Tianjin 300160, CHN
pure electric vehicles automatic test system PXI platform three-parameter sine wave curve-fit algorithm 
半导体光子学与技术
2010, 16(4): 167
作者单位
摘要
昆明物理研究所,云南昆明650223
斯特林制冷机的性能测试结果是判定制冷机是否合格的重要依据。建立由软件和硬件相结合的自动测试系统,可实现多通道同时测试,实现数据的采集、存储和计算。自动测试系统的应用将极大的提高测试工作效率,实现测试数据的完整性和连续性。
斯特林制冷机 性能测试 自动测试系统 Stifling Cooler performance test Automatic Test System 
红外技术
2010, 32(2): 105
作者单位
摘要
中国电子科技集团公司 第41研究所,山东 青岛 266555
光学器件的偏振依赖损耗(PDL)是发展光纤通信必须克服的关键技术之一。该文介绍了一种新型的高精度偏振依赖损耗自动测试系统,系统中采用耦合器和监测功率计,实现了单次接入即可完成偏振依赖损耗的测量,消除了系统光功率稳定性对测试结果的影响。在同一系统中,可实现多种方法测试偏振依赖损耗,采用偏振控制器的延迟补偿技术实现了全波段内的偏振依赖损耗高精度测试。系统工作波长范围为1200~1600 nm,偏振依赖损耗测量范围0~5 dB,测量不确定度高达0.005dB+PDL×4%,可满足各种光学器件偏振依赖损耗测试需要。
偏振依赖损耗 自动测试系统 偏振态 偏振控制器 polarization dependent loss automatic test system polarization state polarization controller 
应用光学
2006, 27(1): 0079

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