对工作于1 064 nm波段的45°倾斜光纤光栅的偏振依赖损耗特性与工作机理进行了分析.利用紫外曝光法, 将周期为1 070 nm的常规相位模板旋转33°后, 在光敏光纤上写制了45°倾斜光纤光栅, 写制的光栅栅区长度为12 mm, 在1 040~1 085 nm范围内偏振依赖损耗值为7 dB左右.影响其偏振依赖损耗值的主要原因为相位模板的周期不是最佳值和栅区长度不够.利用写制的45°倾斜光纤光栅作为起偏器件, 实现了线偏振输出的掺镱光纤激光器, 其激光消光比高于30 dB, 输出波长为1 065.4 nm, 3 dB线宽为0.08 nm, 最高输出功率8.7 mW, 可长时间保持高偏振度稳定工作.

研究分析了45°倾斜光纤光栅的工作机理。利用紫外曝光法，将周期为1070 nm 的相位模板旋转一定角度后，在光敏光纤上成功写制了45°倾斜光纤光栅，通过拼接写制技术，写制的光栅栅区长度为24 mm。对写制的45°倾斜光纤光栅的偏振依赖损耗特性进行了研究，在1064 nm 处偏振依赖损耗值为11.8 dB,在1050~1100 nm 范围内的偏振依赖损耗值保持在9 dB 以上。导致其偏振依赖损耗值偏低的主要原因为相位模板的周期不匹配以及光栅栅区长度不够。经过优化后该器件可作为光纤起偏器件使用。

利用扫描相位掩模法在光敏光纤上成功写制了45°倾斜光纤光栅, 为了增加光栅的长度, 采用了在同一光纤上连续拼接写制多段倾斜光栅的技术, 提高了45°倾斜光纤光栅的偏振选择特性。对写制的45°倾斜光纤光栅的偏振依赖损耗特性进行了实验研究, 报道了利用45°倾斜光纤光栅作为偏振元件, 实现了掺铒光纤激光器的线偏振稳定输出, 输出激光的偏振消光比达到30 dB, 证明了45°倾斜光纤光栅具有良好的偏振依赖特性, 作为一种新的偏振元件, 具有光纤化、性能高、结构紧凑以及价格低廉的特点, 具有很大的发展潜力。

光学器件的偏振依赖损耗(PDL)是发展光纤通信必须克服的关键技术之一。该文介绍了一种新型的高精度偏振依赖损耗自动测试系统，系统中采用耦合器和监测功率计，实现了单次接入即可完成偏振依赖损耗的测量，消除了系统光功率稳定性对测试结果的影响。在同一系统中，可实现多种方法测试偏振依赖损耗，采用偏振控制器的延迟补偿技术实现了全波段内的偏振依赖损耗高精度测试。系统工作波长范围为1200～1600 nm，偏振依赖损耗测量范围0～5 dB，测量不确定度高达0．005dB+PDL×4%，可满足各种光学器件偏振依赖损耗测试需要。

在10 Gb/s,尤其是40 Gb/s以上高速光纤通信系统中,光纤的偏振特性已成为限制系统传输距离的主要因素之一。光纤的偏振效应主要包括偏振模色散和偏振依赖损耗。而脉冲均方根展宽是判断信号传输性能的一个主要物理量。本文讨论了光纤线路偏振模色散与偏振相关损耗的相互作用及对信号脉宽的影响。给出了线路偏振模色散矢量和偏振相关损耗矢量之间的关系式,并基于严格的数学方法,导出了在光纤偏振模色散和偏振相关损耗共同作用下的信号均方根脉宽变化的解析形式,同时考虑了光纤色散,啁啾等。该模型可用于分析高阶偏振模色散和偏振相关损耗,任意线性光纤通信系统脉冲展宽分析。