1 南京理工大学 电子工程与光电技术学院，江苏 南京 210094
2 北方夜视技术股份有限公司，云南 昆明 650217
3 南京美乐威电子科技有限公司，江苏 南京 210094
荧光屏时间特性是评价像增强器性能的重要参数之一。微光像增强器纳秒级荧光屏余辉时间目前尚缺乏测试手段，基于传统像增强器余辉时间的测试方案，研制了纳秒级荧光屏余辉时间测试系统。该系统通过采样速率250 MHz的高速信号发生器完成对激光二极管光脉冲的激励，经由下降时间为0.57 ns的光电倍增管完成对荧光屏光信号的光电转换，μA量级的微弱光电流信号经放大及单端转差分电路，在AD9684中完成AD转换，随后荧光屏数字亮度信息经现场可编程门阵列（field programmable gate array, FPGA）后存储至DDR（double data rate）单元内，经上位机发出指令实现DDR内存的读取，通过USB3.0高速传输协议至上位机中。在数据处理中采用卡尔曼滤波及快速寻找下降沿算法，实现对采集数据的噪声滤波和余辉时间的准确测量。测试结果表明，该纳秒级荧光屏余辉时间测试系统可对具有超快光学特性的像增强器进行有效测试，P47型荧光粉的余辉测试结果达到118. 094 4 ns，重复度为2.08%。
像增强器 快速余辉 自动测试系统 卡尔曼滤波 现场可编程门阵列 image intensifier fast afterglow automatic test system Kalman filter field programmable gate array
1 中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院通用光学定标与表征技术重点实验室 安徽 合肥 230031
2 中国科学技术大学, 安徽 合肥 230026
相对光谱响应是检测和评估多角度偏振成像仪性能的基本参数之一。采用基于激光泵浦氙灯光源的单色仪、消偏器、参考探测器和45°分束镜, 搭建了一套多角度偏振成像仪相对光谱响应测量装置。采用分束镜同步测量的方法,降低光源的非稳定性影响;针对测试过程繁琐和测试时间长的问题, 在基于现有不同开发平台开发的单色仪和数据采集系统的基础上,采用ActiveX控件与动态链接库技术,研制了一套相对光谱响应自动测试系统,降低时间 非稳定性影响,提高测量精度和效率。采用多角度偏振成像仪490 nm和865 nm偏振通道作为应用案例,开展了相对光谱响应的整机测试实验。实验结果 表明多角度偏振成像仪中心波长测量极差值与带宽均值的比值精度在0.11%以内,满足响应非一致性优于0.6%的定标要求。
光谱 偏振成像仪 单色仪 同步测量 自动测试系统 spectrum polarization camera monochromator synchronization measurement automatic testing system
1 中航工业西安航空计算技术研究所，西安 710068
2 西安电子科技大学，西安 710071
以民用飞机电源系统为背景，针对电源系统控制器的功能和工作模式，建立了该产品的通用自动测试系统（GPATS），阐述了GPATS平台软件的选择依据，并对GPATS的设计方案和具体的实现方法进行了分析和描述。
电源系统控制器 通用自动测试系统 测试程序集 民用飞机 power-supply control equipment General-Purpose Automatic Test System (GPATS) test program set civil aircraft
1 中国电子科技集团公司光电研究院, 天津 300000
2 国营第七二二厂, 广西 桂林 541001
针对电子设备的测试需求、系统开放性和可扩展的要求, 开发了一种基于PXI 总线的自动测试系统。详细说明了此系统的硬件构成和软件设计方法。该系统以PXI 内嵌主控计算机为核心, 以LabVIEW 软件为开发环境, 并综合运用标准接口和总线技术来实现系统的综合设计。系统具有良好的人机交互界面, 在使用过程中运行稳定可靠、测试效率高、使用维护方便。
自动测试系统 PCI extensions for instrumentation (PXI) PXI LabVIEW LabVIEW automatic test system (ATS) Visual C++ Visual C++
斯特林制冷机的性能测试结果是判定制冷机是否合格的重要依据。建立由软件和硬件相结合的自动测试系统，可实现多通道同时测试，实现数据的采集、存储和计算。自动测试系统的应用将极大的提高测试工作效率，实现测试数据的完整性和连续性。
斯特林制冷机 性能测试 自动测试系统 Stifling Cooler performance test Automatic Test System
中国电子科技集团公司 第41研究所，山东 青岛 266555
光学器件的偏振依赖损耗(PDL)是发展光纤通信必须克服的关键技术之一。该文介绍了一种新型的高精度偏振依赖损耗自动测试系统，系统中采用耦合器和监测功率计，实现了单次接入即可完成偏振依赖损耗的测量，消除了系统光功率稳定性对测试结果的影响。在同一系统中，可实现多种方法测试偏振依赖损耗，采用偏振控制器的延迟补偿技术实现了全波段内的偏振依赖损耗高精度测试。系统工作波长范围为1200～1600 nm，偏振依赖损耗测量范围0～5 dB，测量不确定度高达0．005dB+PDL×4%，可满足各种光学器件偏振依赖损耗测试需要。
偏振依赖损耗 自动测试系统 偏振态 偏振控制器 polarization dependent loss automatic test system polarization state polarization controller
山西大学物理电子工程学院,量子光学与光量子器件国家重点实验室,山西,太原,030006
为弥补传统光谱测试系统的不足,介绍了一种采用虚拟仪器技术、数字锁相放大器、光栅单色仪、斩波器和热释电探测器组成的可远程控制的光谱自动测试系统.该系统不仅测试自动化程度高,测量范围宽,且能根据测试对象不同的需求随时改变测量方案.基于LabVIEW编程平台,使该测试系统具有很强的数据处理功能和与其它测试仪器的通信能力.实验证明,该系统具有很好的测试性能.
虚拟仪器 远程控制 光谱 自动测试系统 LabVIEW
浙江大学信息与电子工程学系,浙江,杭州,310027
利用CCD图像传感器和图像采集处理技术,实现了电子束着屏误差二维自动测量.在荧光屏的前端附加垂直和水平两组微偏转线圈,通过控制微偏转线圈的电流,改变着屏点附近的磁场,使电子束着屏点的位置在一个粉点范围内精确连续可调.标准光栅的测试验证,系统绝对误差小于5μm,表明该系统稳定可靠,一致性好.
自动测试系统 电子束着屏误差 彩色显示管 微偏转线圈
