1 中国科学院上海硅酸盐研究所, 上海200050
2 长春工业大学, 吉林 长春130012
3 复旦大学化学系, 上海200433
采用悬浮液-自吸扣背景石墨炉原子吸收法测定了高纯氧化铝中痕量元素铜、 铁、 钠含量。 实验对灰化温度、 原子化温度和自吸扣背景灯电流等石墨炉原子吸收工作条件等进行了优化, 确定了最佳测定条件。 样品测试采用标准水溶液进行校正, 方法准确性采用氧化铝AKP-30在高温高压和浓硫酸密闭条件下溶解样品进样分析测定结果与文献报道的其他测定方法结果进行了对比。 研究表明本方法简单, 结果可靠, 适用于氧化铝中痕量元素的快速测定。 校正曲线的线性相关性大于0.999 0, 方法对铜、 铁、 钠的检出限分别为0.66, 2.5, 0.13 ng·g-1 , 相对标准偏差小于5.2%。
氧化铝 悬浮液 石墨炉原子吸收光谱 自吸扣背景 Alumina Slurry Furnace atomic absorption spectrometry Smith-Hieftje background correction
1 中国科学院上海硅酸盐研究所, 上海200050
2 长春工业大学, 吉林 长春130012
3 复旦大学化学系, 上海200433
悬浮液石墨炉原子吸收光谱分析结合了固体和液体进样方式的显著优势, 是一种相对成熟的技术, 并已作为常规分析方法广泛应用于有机和无机复杂基体中微、 痕量金属元素的分析测定。 文章结合最近10年来所取得的新进展进行综述, 着重介绍和评论了悬浮液的制备(介质、 稳定剂、 质量体积比、 粒径、 均匀化体系)、 基体改进剂、 背景校正、 方法校正及其分析的精密度等, 并对悬浮液石墨炉原子吸收光谱分析的发展趋势进行了展望。 全文共引用国内外文献80篇。
悬浮液 石墨炉原子吸收 综述 Slurry sampling Graphite furnace atomic absorption spectrometry Review 光谱学与光谱分析
2010, 30(8): 2253
1 中国科学院上海硅酸盐研究所, 上海 200050
2 复旦大学化学系, 上海 200433
新型陶瓷材料在信息、航空航天、生命科学等现代科学技术各个领域中发挥了极其重要的作用。微量、痕量杂质对材料的光、电等性能影响巨大。因此微量、痕量杂质含量的精确测定对材料制备和性能调控至关重要。文章综述了近10年来等离子体发射光谱/质谱(ICP-AES/MS)在新型陶瓷材料的微、痕量杂质分析方面的应用。结合作者的研究工作，着重介绍和评论了等离子体发射光谱/质谱各种进样方法的优缺点，并展望其发展趋势。
新型陶瓷材料 等离子体发射光谱/质谱 综述 Advanced ceramic materials ICP-AES/MS Review 光谱学与光谱分析
2009, 29(10): 2838
1 中国科学院上海硅酸盐研究所, 上海 200050
2 复旦大学化学系, 上海 200433
研究了悬浮液雾化进样感耦等离子体原子发射光谱基本参数-等离子体电子密度的测定。 实验使用Stark效应常用的谱线Hβ线来计算等离子体电子密度。 测定结果表明悬浮液雾化进样同水溶液雾化进样感耦等离子体原子发射光谱时等离子体电子密度没有发生显著的变化, 数值基本上为1015数量级。 固含量高达10％ TiO2悬浮液雾化进样等离子体原子发射光谱, 电子密度测定结果仅有微小的降低。 高固含量悬浮液雾化进样等离子体原子发射光谱没有显著地影响等离子体电子密度, 有助于使用高固含量悬浮液雾化进样等离子体原子发射光谱来进行痕量元素分析测定。
悬浮液进样 感耦等离子体光谱 等离子体电子密度 Slurry introduction Inductively coupled plasma emission spectrometry Plasma electron density 光谱学与光谱分析
2009, 29(5): 1402
1 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海 200050
2 复旦大学 化学系,上海 200433
研究了悬浮液雾化进样感耦等离子体原子发射光谱基本参数——等离子体激发温度。实验用Ti线为温标线,并采用多谱线法测量溶液雾化进样和0.05％二氧化钛悬浮液雾化进样等离子体激发温度。测定结果显示这两种雾化进样方式的等离子体激发温度接近,为5000-6000K。随感耦等离子体原子发射光谱仪器功率的提高,悬浮液雾化进样等离子体激发温度也相应增大,但增大幅度较小。悬浮液雾化进样等离子体发射光谱分析,若单纯改变仪器功率对于颗粒在等离子体中的原子化效率没有显著的变化,因此对于分析结果没有显著的改善作用。
悬浮液进样 感耦等离子体光谱 等离子体激发温度 Slurry introduction Inductively coupled plasma emission spectrometry Excitation temperature
