碲锌镉晶体中存在着各种典型晶体缺陷, 其缺陷研究一直倍受关注, X射线衍射形貌术是一种非破坏性地研究晶体材料结构完整性、均匀性的有效方法.采用反射式X射线衍射形貌术对碲锌镉衬底的质量进行了研究, 并将衬底的X射线衍射形貌与Everson腐蚀形貌进行了对比分析, 碲锌镉衬底的X射线衍射形貌主要有六种特征类型, 分别对应不同的晶体结构或缺陷, 包括均匀结构、镶嵌结构、孪晶、小角晶界、夹杂、表面划伤, 对上述特征类型进行了详细的分析.目前, 衬底的X射线衍射形貌主要以均匀结构类型为主, 划伤和镶嵌结构缺陷基本已消除, 存在的晶体缺陷主要以小角晶界为主.通过对比分析碲锌镉衬底和液相外延碲镉汞薄膜的X射线衍射形貌, 发现小角晶界等晶体结构缺陷会延伸到外延层上, 碲锌镉衬底质量会直接影响碲镉汞外延层的质量, 晶体结构完整的衬底是制备高质量碲镉汞外延材料的基础.

碲锌镉晶体中存在着各种晶体缺陷, 其中小角晶界是制约碲锌镉晶体质量的主要晶体缺陷之一。X射线衍射形貌术是一种非破坏性地全面研究小角晶界缺陷的有效方法。采用反射式 X射线衍射形貌术对碲锌镉衬底的小角晶界缺陷进行了研究, 讨论了小角晶界类型、样品扫描方向以及入射线发散度等对小角晶界缺陷的 X射线衍射形貌的影响。为全面获得小角晶界缺陷的衍射形貌, 应尽量选择宽的入射线狭缝, 对于对称倾侧晶界和扭转晶界, 应分别平行和垂直于小角晶界方向扫描。

在不同温度条件下对Cd0.9Zn0.1Te晶片进行In气氛退火热处理, 显著提高了Cd0.9Zn0.1Te材料的电阻率。通过实验测量和理论建模计算, 得到了1073、1023和973K条件下In原子在Cd0.9Zn0.1Te晶片中的扩散系数分别为4.25×10-9cm2·s-1、9.02×10-10cm2·s-1和2.17×10-10cm2·s-1, 并且拟合出了1073~973K范围内扩散系数和温度之间的函数关系表达式D(T)=2.15×exp(-1.9/k0T)及频率因子D0等数据。最后, 对实验结果进行了简要的对比和分析解释。