提出了基于空间干涉成像的多芯光纤芯间群延时差的测量方法。用CCD记录不同波长下的空间干涉图，利用干涉图中所有像素点的干涉信息构建三维空间干涉光谱，并通过光谱分析可得芯间群延时差。搭建了基于空间干涉成像的多芯光纤芯间群延时差测量实验装置，测量了沟槽辅助型弱耦合七芯光纤芯间群延时差。该方法的测量装置简单，测量精度可达10^-4 ps/m，不仅可测量两芯间的延时差还可同时测量任意相邻的多个芯的芯间延时差。测量时使用三维调节台加CCD的组合使得待测纤芯的选择激发更加简单。此外，还研究了多芯光纤芯间延时差的弯曲依赖性，结果显示，随着弯曲半径的增大，多芯光纤芯间群延时差不断减小。

为改善干涉成像短波红外高速高光谱成像仪的坏像元对复原光谱的影响，利用高光谱成像仪测试流程建立了坏像元识别模板，以提高坏像元识别效率。首先，按照高光谱成像仪测试流程设置增益模板和帧频模板并采集图像数据，依据正常像元增益响应设定合理判定阈值Th₁，识别不同增益下异常像元并记录对应坐标值；再依据正常像元帧频响应灰度值设定合理判定阈值Th₂，识别不同帧频下异常像元并记录坐标值。最后，对比增益模板和帧频模板判定的异常像元，融合确定坏像元。实验结果表明基于增益模板和帧频模板的识别方法在不增加设备研制测试成本的同时有效识别出短波红外高光谱成像仪探测器的坏像元，为可靠识别短波红外高光谱成像仪坏像元提供了一种低成本、高效可靠的新方法，提高了干涉成像高光谱成像仪光谱反演准确性。

干涉成像光谱技术是利用光的干涉原理获取目标光谱信息的一种成像技术。为研究其在强光下的干扰效果和机理，以大孔径静态成像光谱仪为典型对象，开展了相关仿真实验研究。以实际地物的图像和光谱信息为对象，仿真生成了原始干涉成像图案，并模拟830 nm单波长激光和超连续谱激光两种干扰源，分别研究不同辐照强度下的典型干扰效果，分析时假设光谱角大于30°时原始光谱信息丢失。基于本文的仿真模型，得到的相关结果表明，在830 nm的单波长激光干扰情况下，当干扰与目标成像峰值之比大于0.2∶1时原始光谱信息无法正确复原（光谱角大于30°），但模拟加入830 nm滤光片后，干扰效果被有效滤除。在超连续谱激光干扰情况下，不考虑饱和阈值时光谱角数值最终稳定在21°；考虑探测器饱和阈值为目标成像强度峰值3倍时，干扰与目标成像峰值之比大于2.1∶1时，原始光谱信息便无法分辨。该研究可能为同类型光谱仪的激光辐照效应和损伤机理的后续研究，以及光谱成像系统的激光防护和性能优化提供参考。