在α放射源能谱测量过程中，PIPS-α谱仪探测效率的影响因素有几何因子、空气层吸收、死层吸收、本征探测效率等，为了更精确地计算α放射源的活度，分析母体核素种类和浓度，探究各因素对探测效率的影响具有重要意义。使用蒙特卡罗软件模拟不同探源距、真空度下的α放射源的能谱测量；使用SRIM模拟5 MeV α粒子在空气和死层中的射程及分布；使用PIPS-α谱仪测量241Am，238Pu，239Pu三种标准源的实际能谱；根据实验与模拟的结果对各个因素对探测效率的影响进行分析，并计算得到谱仪对不同α放射源的本征探测效率。结果表明：在PIPS-α谱仪的能谱测量过程中，影响谱仪探测效率的主要因素是几何因子和本征探测效率，空气层和死层对α粒子的吸收可以忽略不计；谱仪对241Am，238Pu，239Pu三种标准源的本征探测效率分别为64.84%，49.95%，51.55%。

透射式微型X射线管是能量色散X射线荧光分析中的主要激发源, 在能量色散X射线荧光分析中希望得到谱分布较为单一的X射线管输出谱。 采用MC方法, 研究了透射式微型X射线管在不同目标靶厚度的情况下输出谱的特征, 通过低谱段（<5 keV）和高能谱段(5~50 keV)的分析比较, 高能谱段计数随厚度加大先增加而后减小, 低能谱段计数则随厚度增加减小, 增加目标靶厚度可以有效抑制低能谱段。 在入射电子能量为50 keV和目标靶为4 Ag的条件下, X射线管输出能谱具有较高的高能谱段注量, 同时有效压制低能谱段注量, 适合能量色散X射线荧光分析中使用。

利用Monte Carlo(MC)模拟技术解释实验中心线灰度曲线的各部分波形.结果发现,系统中的散射照射量、光源的尺寸和H-D特征曲线的形状对实验灰度曲线的各部分波形均有影响:散射量越大,中心信号幅度越低;H-D曲线趾部的非线性越严重,中心信号幅度也越低;光源尺寸造成图像越模糊.指出了用实验波形可以半定量确定系统散射程度和光源尺寸.在测量照射量时,应该尽可能避免散射的干扰,用台阶法测量H-D曲线时,应使台阶远离剂量片而前移.

针对高能电子束撞击重金属靶产生轫致辐射光子,利用蒙特卡罗方法详细研究了电子束半径与发射度以及靶的厚度对X光源特性的影响.结果表明:电子束半径与发射度不仅是影响照射量的主要因素,也是造成照射量分布不均匀的主要原因;给定电子束,存在一个靶厚度使得靶前1m处的照射量最大.因此,在X射线成像系统的设计和模拟过程中,应综合考虑电子柬半径与发射度和靶厚的影响.