针对核设施机电设备中控制系统存储单元耐辐射可靠性评价的需要, 以国产NOR型Flash存储器为研究对象, 对器件存储阵列浮栅单元的总剂量损伤阈值开展了实验研究。综合利用SMOTE算法和Bootstrap法建立了一种基于极小子样的器件耐辐照可靠性评价方法, 对被测样品校验失效剂量进行了统计分析。实验结果表明, 器件浮栅单元的主要失效模式为浮栅电荷损失造成的阈值电压降低, 平均校验错误剂量为(631.89±103.64)Gy(Si)。统计分析表明, 器件总剂量损伤阈值服从对数正态分布。基于SMOTE-Bootstrap的可靠性评价方法避免了传统Bootstrap再生样本过于集中的问题, 可应用于极小子样的可靠性评价。

电力通信网可靠性在智能电网安全运行中起着至关重要的作用。采用层次化建模思想建立了典型电力通信系统的可靠性模型。首先，采用自顶向下分解法，将典型配电网通信系统解构成终端层子系统、接入层子系统、子站通信层子系统和主站控制层子系统；然后，采用平均故障间隔时间、平均无故障运行时间、平均修复时间等参数评估通信基础产品的可靠度，采用非冗余系统、完全冗余系统，部分冗余系统，以及旁联系统评估各个子系统的可靠度；最后，采用自底向上合成法，根据系统的拓扑结构评估整个网络的可靠性。提出的可靠性分析方法为电力通信网可靠性评估方法提供了理论依据。

为解决具有时序相关、功能依赖、多态性、部件数量多等特点的IMA平台在可靠性分析中的困难, 提出了一种离散事件演化树仿真分析方法, 通过将IMA平台运行过程中的随机故障事件建立成离散故障事件序列,从而驱动系统状态的不断演化, 利用故障事件演化树分析离散故障事件对系统状态的影响, 通过建立系统多状态集合和大样本观测评估IMA平台在不同时刻处于各个系统状态的概率。该离散事件演化树仿真分析方法可实现IMA平台可靠性多态定量分析, 为设计提供理论数据依据。

基于广义熵损失函数, 分别在无信息先验及共轭先验分布下, 获得维纳过程参数及可靠性指标的贝叶斯估计, 并将其与极大似然估计、平方损失函数下的贝叶斯估计进行对比讨论。仿真结果表明, 广义熵损失函数下的贝叶斯估计均方误差最小, 精度最高, 同时该估计的表达式比较灵活, 能够有效刻画过高估计和过低估计造成风险不同的情形。

针对典型航电FC交换网络的架构, 综合考虑了节点、交换机整体故障和各个端口独立故障对网络可靠性的影响差异以及多种余度数量的分析需求, 建立了节点、交换机和链路故障模型、端口-端口网络故障模型以及节点-节点网络故障模型, 提供了一种基于矩阵的直观建模思路; 给出了基于仿真的故障样本生成方法和网络可靠性计算方法, 并结合案例对航电FC交换网络的可靠性进行了定量分析, 以上模型和方法可为航电FC交换网络的可靠性设计提供理论数据支持。

根据白光发光二极管失效物理机制选取理想因子、结温、色坐标漂移量等参数作为输入量，利用果蝇算法自学习优化标准径向基神经网络基函数宽度，提高输出精度.研究表明，径向基神经网络模型可以成功预测白光发光二极管可靠性衰变趋势，具有较高的稳定性和鲁棒性；利用果蝇算法优化后，预测平均误差成功减少为3.1%，对未来建立以神经网络为基础的发光二极管可靠性预测模型库提供有益帮助.

激光器是理想的电光直接转换器件, 延长半导体激光器的使用寿命, 提高半导体激光器的可靠性, 是大功率半导体激光器的研究热点。文中采用温度应力加速和电流步进应力两种老化方法对808 nm的大功率半导体激光器进行老化试验, 得到寿命分别为1 682 h和1 498 h, 实验结果基本一致, 并在显微镜下观察破坏性老化试验之后的器件, 分析得到失效原因主要来自腔面退化、焊料退化和欧姆接触不良。

环-靶站输运线(RTBT)末端的准直器是中国散裂中子源(CSNS)工程中的关键部件之一, 因其靠近靶站, 辐射剂量大, 维护困难, 故设计可靠性极为重要。根据准直器的工作原理, 及CSNS物理设计要求, 对比国外同类加速器的设计经验, 设计完成准直器设备。在设计过程中兼顾了热沉积、功率损耗和材料性能等方面的严格要求, 并逐一阐述了具体方案。利用Bethe-Bloch公式计算与SRIM软件模拟的结果比较, 确定了模拟工具和模拟方法的可靠性, 根据ANSYS有限元软件模拟的结果, 验证了准直器结构设计的可靠性。

目前，基于性能退化数据的可靠性分析已成为有效而节约成本的可靠性评估方法，现有关于此方面研究的文献大多局限于研究单特征量的情形，而许多产品具有多个性能退化量。针对产品具有多个性能参数的特点，提出了基于多参数距离分析的可靠性分析方法，探讨并提出多性能参数距离、距离失效阈值的概念，给出参数加权因子的求解方法。弥补了现有方法基于多元正态联合概率密度函数假设致使求解过程较复杂等不足。最后通过仿真实例验证了方法的有效性。