为提高系统的测量范围、灵敏度与线性度, 利用拉锥光纤替代均匀光纤, 进行表面等离子共振光纤传感器性能优化研究.通过大功率激光熔融拉锥工艺, 结合圆环靶磁控溅射制备了锥形光纤等离子共振探头;利用光纤光谱仪, 在1.33-1.43RIU折射率变化范围内, 以探头的表面等离子共振吸收谱对称性、吸收谱半高全宽的稳定性, 以及探头共振吸收波长分辨率为指标, 进行探头性能测试与筛选;利用筛选出的探头, 基于调频光谱原理构建闭环检测系统;在相同检测对象与检测环境条件下, 以阿贝折射率仪测量结果为参照, 对均匀探头与锥形探头的检测结果进行比较.结果表明, 在1.33-1.43 RIU范围内, 相对于均匀光纤探头0.00032 RIU的测量准确度、2 600 nm/RIU的波长分辨率, 锥形探头可在较大折射率变化范围内, 以较好的线性度, 实现0.00003 RIU测量灵敏度和约4 500 nm/RIU的波长分辨率.

为了快速标定中子小角散射谱仪的关键参数:速度选择器的选择波长和波长分辨率以及谱仪布局下的Q分辨率, 采用实验方法对山嵛酸银粉末的中子小角散射实验数据进行了拟合。首先, 确定谱仪布局, 包括准直光阑孔径大小、准直长度、样品到探测器之间的距离; 其次, 在中子小角散射谱仪的机械速度选择器设置在3 000、4 000、5 000和6 000 r·min-1 4种不同转速下, 测定山嵛酸银粉末的中子小角散射谱; 最后, 对实验数据进行反演分析。通过分析, 计算出该机械速度选择器常数为2 329.2 r·m-1·nm, 从而得到了4种不同转速所对应的选择波长分别为0.776、0.582、0.466、0.388 nm; 通过对实验数据的拟合还得到了该速度选择器的波长分辨率(23.75%), 以及在此谱仪布局下的Q分辨率曲线。结果表明, 使用山嵛酸银粉末的中子小角散射能够较好地标定谱仪的关键参数, 从而支持对中子小角散射数据的正确分析和反演。

本文提出和研究了利用超分辨缩小成像平板超透镜，在i 线光源波长下实现纳米尺度光刻方法。为了在超分辨透镜像面位置获得高质量的光刻图形，采用超分辨透镜-光刻胶-反射银膜的结构方式，解决由于超透镜磁场偏振传输模式带来的成像光场畸变问题，大大提高了成像质量和光场对比度。采用掩模图形结构预补偿的方法，消除超分辨透镜的倍率畸变像差影响。基于有限元电磁计算方法，数值模拟结果验证了该方法在i 线光源波长下实现纳米尺度缩小成像光刻的可能性。在i 线(365 nm)光源波长下，得到约35 nm 线宽的高对比成像光场模拟结果，并分析了结构参数变化对成像光场带来的影响。