在对相同材质，不同光泽的物体表面进行颜色测量时，为了去除表面光泽对颜色测量产生的影响，多选择漫射照明、8°观察角、包含镜面反射光的照明观测条件。在理想情况下，由于积分球对照明光线的匀化，测量结果不会受到材料表面光泽的影响。但是在实际仪器结构设计中，由于测量结构设计的限制导致相同光谱反射率，不同表面光泽的测试样品颜色测量结果不同。文章从理论上分析了漫射照明、8°观察角、包含镜面反射光的照明观测条件下不同光泽材料表面测量产生误差的原因，设计了一种可以同时测量颜色数据和光泽数据的测量结构，提出了一种根据被测材料表面光泽数据对 SCI测量数据进行修正的矫正模型，并设计相关实验进行验证。实验结果证明，应用该矫正模型对测量结构进行修正可以显著减小该测量误差。

为了获得特定的探测器光谱响应, 可以采用全滤色片法对滤色片进行精确匹配.在匹配计算时, 通常使用滤色片的垂直光谱透过率作为计算依据；而实际应用中斜入射的光线会导致匹配计算结果和测试结果不一致.本文在光线漫入射条件下对圆柱形状滤色片的漫入射光谱透过率计算方法进行了分析, 提出了一种由滤色片垂直入射光谱透过率计算滤色片漫入射光谱透过率的修正模型.设计了双积分球测量装置对滤色片的漫入射透过率进行检测.在该装置下检测不同滤色片的漫入射光谱透过率, 并与修正模型计算结果进行对比验证.实验结果表明, 修正模型可以在较小误差范围内由滤色片的垂直入射光谱透过率计算其漫入射光谱透过率, 应用于全滤色片匹配可以显著提高匹配结果和实际测量结果的一致性.

对表面光泽度较高的物体表面颜色进行测量，常采用漫射照明、8°观察角、消除镜面反射光的几何条件。在结构设计中，通过积分球内设置的光阱来消除镜面反射光。由于光阱的尺寸、大小的不同，导致不同结构的仪器在测量表面光泽度不同的样品时会产生较大的器间差。从理论上分析了漫射照明、8°观察角、消除镜面反射光的几何条件下不同结构的测量仪器的器间差产生原因；设计了一种可以兼容包含镜面反射光(SCI)和去除镜面反射光(SCE)几何条件的测量结构，通过对样品表面SCI和SCE数据进行同时测量获得样品表面的光泽数据；提出了一种根据被测材料表面光泽数据对SCE测量数据进行修正的修正模型，并设计相关实验进行验证。实验结果证明，应用该修正模型对测量结构进行修正可以显著减小不同仪器结构之间的测量偏差，有显著的工程应用价值。