作者单位
摘要
1 黑龙江大学 电子工程学院,黑龙江 哈尔滨 150080
2 光纤传感技术国家地方联合工程研究中心(黑龙江大学),黑龙江 哈尔滨 150080
3 黑龙江大学 物联网感知层及传感网络工程研发中心,黑龙江 哈尔滨 150080
提出一种利用图像翻转和复域编码消除离轴干涉载频影响,进而实现相位恢复的方法。方法通过旋转样品干涉图180°,得到翻转干涉图。样品干涉图与翻转干涉图首先被复数域编码为一幅合成的干涉图。继而进行傅里叶变换,可通过带通滤波器提取频谱中相互分离的共轭项用于相位恢复。通过逆傅里叶变换,可以获得含有样品干涉图和翻转干涉图的相位分布、载频信息的结果。通过除法运算,载频得以在无需复杂运算、解包裹、系统先验信息的情况下被消除。通过仿真和实验验证了算法的可行性。实验结果表明该方法可获得精确的相位恢复结果。在恢复薄相位样品时,该方法的恢复时间仅为原图像翻转方法的23.32%。
离轴干涉 复域编码 干涉图翻转 载频消除 相位恢复 off-axis interferometry complex encoding interferogram rotation carrier removal phase retrieval 
红外与激光工程
2019, 48(10): 1013004
作者单位
摘要
1 中国科学院 特殊环境功能材料与器件重点实验室, 新疆电子信息材料与器件重点实验室,中国科学院 新疆理化技术研究所, 新疆 乌鲁木齐 830011
2 中国科学院大学, 北京 100049
3 新疆大学 物理科学与技术学院, 新疆 乌鲁木齐 830046
4 中国科学院 苏州纳米技术与纳米仿生研究所, 江苏 苏州 215123
为研究键合四结太阳电池中In0.53Ga0.47As子电池在高注量电子辐照下的性能退化规律与机制, 对In0.53Ga0.47As单结太阳电池进行了高注量1 MeV电子辐照试验, 并结合等效位移损伤剂量理论和数值拟合方法对电池性能的退化进行了分析讨论。结果表明, 在1 MeV电子辐照下, 非电离能损(NIEL)值在电池活性区内随着电子入射深度的增加不断增大; 开路电压Voc、短路电流Isc等重要I-V特性参数随着辐照注量的增加均发生了不同程度的退化, 注量达到6×1016 e/cm2时, 电池光电转化效率为零, 电池失效。光谱响应方面, 注量小于4×1016 e/cm2时, 长波区域退化程度明显比短波区域严重; 注量大于4×1016 e/cm2时, 长波区域退化程度与短波区域基本相同。辐照位移损伤引起的光生少数载流子扩散长度减小和载流子去除效应是导致电池性能退化的主要原因。
InGaAs单结太阳电池 高注量电子 位移损伤 载流子寿命 载流子去除效应 InGaAs single junction solar cell high fluence electron displacement damage carrier lifetime carrier removal effect 
发光学报
2019, 40(9): 1115
作者单位
摘要
昆明理工大学 理学院 激光研究所,昆明 650500
基于投影栅的3维面形测量中,包裹相位的提取过程中不可避免地会引入载频分量。为了准确地还原受物体3维形貌所调制的真实相位,必须要消除载频相位,采用剪切原理消除投影栅中的载频,首先通过对光场作剪切转化为相位梯度分布的新光场,再联合最小二乘解包裹算法进行相位展开,并与现有的方法进行了对比。结果表明,该方法能够有效地消除载频,减小重建误差,且其算法简单,可使重构相位值更接近待测的真实相位值。该方法在投影栅去载频的研究中是可行和有效的。
信息光学 3维测量 结构光投影 消除载频 剪切原理 information optics 3-D measurement structured light projection carrier removal shearing principle 
激光技术
2013, 37(6): 843
作者单位
摘要
四川大学电子信息学院光电科学技术系, 四川 成都 610065
在基于条纹投影的三维轮廓术中,投影条纹不可避免地会引入载频分量。同时实际成像系统又存在畸变等光学像差,导致载频分量不再是线性分布,只有准确消除载频成分后,才能还原待测物体的三维形貌。提出了一种运用泽尼克多项式拟合消除载频的方法,用参考平面区域数据点的相位值和泽尼克多项式值,拟合得到整幅图像的载频相位分布,从整体的相位中减去载频相位,获得由物体高度调制的相位分布。对理想变形条纹和有畸变变形条纹的载频消除过程分别进行了模拟实验,并与现有方法的结果进行了对比,验证了该方法的有效性。实物实验也表明该方法可以有效地消除载频,减小重建误差,且其算法简单,只需单帧图像即可消除载频,有望在动态三维面形测量中得到应用。
三维面形测量 载频消除 泽尼克多项式 条纹分析 
光学学报
2011, 31(4): 0412011

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!