作者单位
摘要
1 华中光电技术研究所—武汉光电国家实验室, 湖北 武汉 430223
2 延长集团陕西化建工程有限责任公司, 陕西 西安 710003
针对电光Q开关速度快的特点,提出基于射频场效应管电光调Q驱动电路的设计方法。通过选择电磁对称性器件,多个电容并联,元器件及走线空间对称分布以较好的符合电磁对称性要求,使得回路等效电感降低。通过该方法可获得上升沿约16 ns,幅度大于5 000 V电光调Q开关驱动信号。该研究为高速高压电路设计提供了参考。
电光Q开关 射频场效应管 驱动电流 电磁对称 electro-optic Q-switch radio frequency field effect transistor drive current electromagnetism symmetry 
光学与光电技术
2014, 12(3): 58
田磊 1,2,*
作者单位
摘要
1 西安电子科技大学 电路CAD研究所, 西安 710071
2 西安邮电大学 电子工程学院, 西安 710121
研制了一款具有强驱动电流且能稳定工作的光电耦合器芯片, 其中含有欠压锁存电路、逻辑控制模块以及后级的Push-Pull驱动电路。详细分析了欠压锁存(UVLO)及逻辑控制模块的工作原理, 并以此为基础对整体外围电路进行仿真, 仿真驱动电流达到3A以上。实测结果表明, 当电源电压为30V、测试温度为25℃时, 芯片正向峰值电流可达2.8A, 负向驱动电流峰值可达2.5A, 满足系统设计指标, 适用于大型电力电子工业系统中。
光电耦合器 欠压锁存 逻辑控制 死区时间 驱动电流 optocoupler UVLO logic control dead-time drive current 
半导体光电
2014, 35(3): 415
作者单位
摘要
中国计量学院现代计量测试技术及仪器浙江省重点实验室, 浙江 杭州 310018
讨论了荧光粉浓度及驱动电流强度对白光LED特性的影响。采用软件模拟实验和实际封装测试相结合的研究方法进行分析研究。对荧光粉浓度变化对白光LED光通量和相关色温(CCT)的影响进行了三维光线追迹模拟,并且进行了实际的封装验证。另外对白光LED的节温和显色性也做了深入细致的研究。研究结果表明:CCT随着荧光粉浓度的增大而减小,光通量则先上升后下降。同时由荧光粉浓度和驱动电流强度变化所引起的节温升高会降低荧光粉的转换效率。对显色性而言,采用高浓度荧光粉封装的白光LED有相对低的显色指数;并且显色指数随着驱动电流强度的增加而升高,最终趋于稳定。
光学器件 白光LED 模拟 封装 荧光粉 驱动电流 
激光与光电子学进展
2012, 49(3): 032301
作者单位
摘要
1 华中光电技术研究所 武汉光电国家实验室, 武汉 430074
2 武汉工程大学 化工与制药学院化学工程系, 武汉 430074
介绍了利用金属氧化物场效应管产生大电流窄脉冲来驱动激光二极管的原理, 推导出驱动金属氧化物场效应管峰值驱动电流的计算公式和开通时间的估算公式, 通过仿真总结出影响驱动电源脉冲电流的脉宽、幅度和振荡的主要因素, 理论和仿真结果表明, 器件的寄生电感、电路走线电感和负载寄生电感对电流影响较大。实验结果显示, 在供电高压为200 V时, 金属氧化物场效应管开通时间为2 ns;激光二极管驱动电流上升时间小于10 ns, 脉宽为15~100 ns, 幅度为0~50 A连续可调, 频率为0~50 kHz。
脉冲激光二极管 金属氧化物场效应管 驱动电源 驱动电流 开通时间 pulsed laser diode MOSFET drive power supply drive current switch-on time 
强激光与粒子束
2010, 22(6): 1223
作者单位
摘要
哈尔滨工业大学 自动化测试与控制学院,黑龙江 哈尔滨 150001
激光测距系统中的发射器件和接收器件具有温敏特性且均为小功率器件,精密测温电路采用Pt电阻时,Pt电阻的自热效应影响测温精度。为减小自热效应产生的测温误差,在分析Pt电阻测温误差产生机理的基础上,提出了一种新的脉冲电流供电方案,建立了脉冲电流供电电路及其自热升温过程的数学模型,给出了脉冲宽度和热量积累的关系,并通过合理控制脉冲宽度大大减小了自热效应引起的测温误差。使用高阶正交多项式拟合法对Pt电阻的非线性进行了补偿,给出了该系统温度测量模块测量数据与一级标准铂电阻温度值的比较实验,在不同的温度点,该温度测量系统的最大误差为0.000 6 ℃。系统稳定性测试结果表明,该系统在0~15 ℃时,各温度点控制稳定度均优于0.005 ℃,满足高精度激光测距的需要。
激光测距仪 温度控制 脉冲供电 自热效应 laser range finder temperature control pulse-drive current self-heating effect 
光学 精密工程
2009, 17(9): 2128

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