利用非制冷红外热像仪测量人体表面温度场, 除具有快速、非接触和量程短等特点外, 还对测温精度有较高要求。针对非制冷微测辐射热计热像仪测量精度受环境、机芯温度影响较大的问题, 提出一种对热像仪使用温度与标定温度之差引起的测量误差进行修正的方法。即对分别测得的环境温度、机芯温度和灰度两组数据, 由支持向量机拟合得到环境温度和机芯温度误差修正模型; 实际测量时, 分别由热电偶和置于热像仪中的传感器测得环境温度和机芯温度后, 根据误差修正模型对环境和机芯温度变化引起的热像仪测量误差进行修正, 获得较为准确的人体表面温度场数据。实验结果表明: 该修正方法, 与经标定的高精度热电偶测温相比, 可使测量距离2 m时的测温误差减小50%。

在传统红外图像非均匀性校正方法中，探测器均处在常温环境下，当探测器的环温在一个较宽的范围内变化时，这些方法的校正效果便会恶化、不适应。针对此问题，本文在原常温多点标定法的基础上提出了一种基于曲面拟合的校正方法，把原先标定曲线加上探测器环温维度扩展成标定曲面。随后的纵向对比实验和横向对比实验表明该方法能够显著降低非均匀性，并能适应环温变化的情况。

为研究环境温度对光纤光栅使用寿命的影响,从光纤光栅的成栅机理出发,分析了光纤光栅折射率调制度的形成及热致衰减的物理机理;并以热致衰减机理为基础、以峰值反射率为主要指标,建立了温度对光纤光栅使用寿命的影响模型,得到了光纤光栅峰值反射率随温度及时间的变化关系.物理实验与数值仿真验证了理论模型的合理性,即：在仅考虑温度影响因素的情况下,光纤光栅在常规应用温度条件下可长期正常工作.

在近红外比色测温中,当炉内环境辐射强度高于被测工件辐射强度时, 环境辐射对测量结果的准确性有显著影响。 为了得到较为理想的测量结果,通过对被测工件在不同温度场下的投射辐射吸收率、反射率和透射率的分析, 得出了几者之间的关系,为准确测量工件的实际温度提供了依据。在此基础上,提出一种新的解决高温背景辐射影响的方法。

在达到1 nm量级的光学元件表面面形干涉检验时，被检元件由温度变化引起的面形偏差是不能忽略的。分析了干涉检验时存在的各种环境温度情况，对不同情况下被检元件内外温度分布进行了仿真，并将温度场作为静力学分析的载荷条件，进行了镜面温度变形分析。计算出了带支撑的直径为300 mm凸球面透镜在不同温度分布下的镜面变形量，并通过球面拟合计算出面形的峰谷(PV)值和均方根(RMS)值，得出要保证1 nm精度的面形测量就需要保证环境温度水平漂移不超过±0.1 ℃，镜子轴向温度差不超过±0.05 ℃，直径方向温度差不超过±0.1 ℃的结论，为高精度面形检测的实施提供了参考。

为提高红外焦平面阵列盲元的定位精度,分析了盲元的产生机理,指出了探测器所处环境温度对探测元的探测能力以及焦平面阵列的盲元数量和位置分布的影响,提出了一种考虑环境温度差异的红外焦平面阵列盲元检测算法,精确定位了不同温度范围内的盲元位置。实验结果表明,该算法可将随环境温度改变而改变的盲元位置信息准确检测出来。