为实现大尺寸光学材料折射率均匀性的高精度、低成本检测，提出一种基于子孔径拼接技术的干涉绝对测量方法，并研制了一套由Zygo干涉仪、五维气浮调整平台、子孔径拼接软件、计算机等组成的测量计算系统。待测件安放在精密的五维气浮调整架上，通过移动调整架来对各个子孔径区域进行精密检测，再利用子孔径拼接软件自动拼接计算出全口径待测件的光学均匀性分布。对直径为300 mm的石英待测件进行了口径为180 mm的8个子孔径拼接检测实验，并将拼接所得结果与全口径干涉仪直接测量的结果进行了分析和比较，波面峰谷值相对误差为0.21%，光学均匀性值相对误差为0.23%，精度与大口径干涉仪直接测量的精度相当，实现了绝对检验下的平面类波前子孔径拼接技术的实用化。整套系统集光、机、电、算于一体，操作简便，测量精度高。