1 四川大学 电子信息学院, 成都 610064
2 中国工程物理研究院 科技委, 绵阳 621900
为了研究面阵CCD和线阵CCD由结构差异所致激光损伤效应的区别，针对这两种类型CCD器件进行了机理分析和对比实验研究。分别测量出波长为532nm的激光对线阵CCD和面阵CCD图像传感器的光饱和串音阈值、所有像素串音阈值和硬损伤阈值。结果表明，面阵CCD的光饱和串音阈值和永久破坏阈值比线阵CCD低，而串音扩散到所有像素的阈值高于后者。反映出线阵CCD由于其1维结构更能抵抗激光的干扰和破坏，而面阵CCD在抵御饱和串音在像素间扩散上比线阵CCD有优势。
激光技术 损伤阈值 饱和串音 面阵CCD 线阵CCD laser technique damage threshold saturation crosstalk array CCD linear CCD
