1 中国人民解放军总参谋部四部驻成都地区军代室, 成都 610036
2 西南技术物理研究所, 成都 610041
为了对比研究激光对可见光CCD的干扰效果, 采用532nm,808nm和1064nm波长的激光对同一可见光CCD进行了干扰实验。结果表明, 3种波长的激光对CCD都有一定的干扰效果, 由于干扰波长、干扰功率、工作方式等不一样, 干扰效果也存在差异。对于脉冲式激光器, 532nm激光比1064nm激光具有更低的光饱和阈值;当各波长激光输出达到一定功率时, CCD会出现饱和串音的现象。此干扰实验为更好干扰CCD成像系统提供了一定的实验依据。
激光技术 激光干扰 饱和串音 laser technique CCD charge coupled devices laser jamming saturation cross-talk
1 四川大学 电子信息学院, 成都 610064
2 中国工程物理研究院 科技委, 绵阳 621900
为了研究面阵CCD和线阵CCD由结构差异所致激光损伤效应的区别，针对这两种类型CCD器件进行了机理分析和对比实验研究。分别测量出波长为532nm的激光对线阵CCD和面阵CCD图像传感器的光饱和串音阈值、所有像素串音阈值和硬损伤阈值。结果表明，面阵CCD的光饱和串音阈值和永久破坏阈值比线阵CCD低，而串音扩散到所有像素的阈值高于后者。反映出线阵CCD由于其1维结构更能抵抗激光的干扰和破坏，而面阵CCD在抵御饱和串音在像素间扩散上比线阵CCD有优势。
激光技术 损伤阈值 饱和串音 面阵CCD 线阵CCD laser technique damage threshold saturation crosstalk array CCD linear CCD
采用脉宽500 fs,脉冲能量250 μJ的超短脉冲激光辐照线阵CCD探测器,观察到了CCD从线性响应到像元饱和、饱和串音直至硬损伤的整个过程,并着重对两种辐照能量密度下的硬损伤机理进行了理论分析.结果表明:激光能量密度为0.45 μJ/cm2时,达到像元饱和;能量密度为0.14 J/cm2时,辐照6个脉冲后实现了CCD器件的硬损伤,硬损伤源于晶格被加热并汽化形成等离子体;能量密度为1.41 J/cm2时,单个脉冲就使CCD器件的输出波形无法辨认,2个脉冲后CCD器件没有任何信号输出,硬破坏源于电荷分离形成的电场库仑力.
CCD探测器 超短脉冲激光 破坏机理 像元饱和 饱和串音 CCD detector Ultra-short pulse laser Damaging mechanism Element saturation Cross talk 强激光与粒子束
2005, 17(10): 1445
