1 第二炮兵工程大学 303教研室, 西安 710025
2 二炮驻成都地区代表室, 成都 610000
针对红外焦平面成像系统存在列向条纹非均匀性的现象, 采用了一种基于自适应PM扩散模型的非均匀校正新算法。首先, 综合利用图像梯度信息和局部灰度统计信息, 自适应计算PM模型的扩散阈值; 然后将每列像素的PM模型估计值作为该列像素的期望值; 最后采用最陡下降法迭代计算得到每列像元的校正参数, 并对结果进行循环校正以提高校正效果。实验结果表明: 该算法可以保护图像边缘信息, 与同类算法相比, 能够更有效地抑制条纹非均匀性, 并且能够防止图像产生鬼影。
单帧红外图像 条纹非均匀校正 自适应扩散模型 最陡下降法 鬼影 single infrared image stripe nonuniformity correction adaptive diffusion model steepest descent method ghosting artifact
北京理工大学 光电学院 光电成像技术与系统教育部重点实验室, 北京 100081
针对红外成像探测器单元响应不一致等因素导致的图像非均匀性条带问题, 提出了基于直方图加权和Savitzky-Golay拟合的非均匀性条带校正方法。首先, 计算每列的归一化直方图函数并将其作为权值对图像进行加权运算;然后, 利用Savitzky-Golay滤波器对加权后的图像列均值和列方差进行拟合, 并将结果带入校正公式, 通过可调参数的迭代完成校正。实验结果表明: 该方法能有效地去除非均匀性条带, 保留图像的光谱辐射信息和纹理细节, 各项评价指标均提高10%。
非均匀性条带校正 红外成像探测器 直方图加权 Savitzky-Golay滤波器拟合 stripe nonuniformity correction infrared imaging detector histogram weighting Savitzky-Golay filter fitting
南京理工大学 近程高速目标探测技术国防重点学科实验室，江苏 南京210094
条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声.分析了其产生的原因，提出了一种基于亮度恒定假设和配准的条纹非均匀性校正算法.根据相邻两帧获得亮度均方误差函数，最后通过最小化全局亮度均方误差函数得到全局最优解作为非均匀性校正的参数.实验结果表明，该算法能够在几帧内达到较好的收敛,且计算简单，有效提高了条纹非均匀性的校正效果.
红外焦平面阵列 条纹非均匀性校正 亮度恒定 配准 infrared focal plane array (IRFPA) stripe nonuniformity correction brightness constancy registration
