国内外近些年来, 对于光学元件表面缺陷的检测技术越来越重视。由于光学元件表面质量的好坏会直接影响到光学系统的性能。文章主要针对曲面光学元件中球面和柱面光学元件表面微缺陷的检测问题, 提出了一种基于光偏振特性的检测方法。利用光学元件表面缺陷与无缺陷区域之间透射光偏振态的差异, 提高整幅图像中缺陷的对比度。首先基于光的偏振理论, 利用偏振片获得偏振照明光, 并采用共焦照明的方式获得同时对焦的曲面光学元件缺陷图像。其后, 利用计算机对缺陷图像进行处理。结果表明采用光的偏振特性对曲面光学元件表面微缺陷的检测, 能够获得高对比度、高分辨率的缺陷特征。此方法很好的提高了曲面光学元件表面微缺陷的检测准确度和检测效率, 结果表明缺陷的检测准确率达到了95％。

利用ZEMAX软件对透射式米散射激光雷达系统的杂散光进行分析, 对激光雷达系统中光学镜片表面的反射和镜筒内壁系统的多次反射、散射进行模拟, 得到镜面的多次反射光成像在探测器面源的功率可达3×10-8 W, 镜筒散射光成像在探测器面源的功率达到2.8×10-9 W。在测量条件相同的情况下, 通过对透射式和反射式激光雷达的连续观测结果进行分析, 得出透射式米散射激光雷达的近场杂散光经过光电转换后的回波信号强度可以达到1000 mV, 比反射式激光雷达系统的高约17倍；用衰减片分别对两种雷达信号进行衰减处理, 结果显示:当信号衰减80%时,透射式激光雷达系统的近场信号出现下翘现象。从对信号非线性化处理的结果也可以看出, 反射式激光雷达系统优于透射式激光雷达系统。

针对瞄准镜在射击前后会有一定的变动量即零位走动量。文中介绍了一种测量零位走动量的方法, 该方法采用CCD测量总的零位变化量, 再通过光电自准直仪测量出重复装卡时产生的误差, 两者的差值即为纯粹的零位走动量。针对之前无法剔除重复装卡引起误差的方法, 该测量方法的优势在于可以测量纯粹的零位走动量, 通过对工作原理的介绍以及实验分析, 结果表明, 白光瞄具的纯粹零位走动量[σ]值不大于6.48″(0.03 mil); 该方法所测得的零位走动量精度高, 符合技术指标要求。

由于共焦针孔的加入及现有太赫兹激光器输出不稳定，太赫兹共焦扫描显微成像所得图像的质量不高，将双边滤波算法应用于透射式太赫兹共焦扫描显微成像图像去噪复原，通过研究确定了适合于该情况的双边滤波参数，并且与中值滤波、均值滤波和开运算滤波的滤波性能进行比较，证明了双边滤波算法应用于透射式太赫兹共焦扫描显微成像图像去噪复原的可行性。

利用对数螺线晶体在大视场范围内的保角特性, 研究了一种用于等离子体X射线单色成像的透射式对数螺线晶体分析器。与反射式弯晶成像谱仪相比, 该分析器具有单能成像视场更大, 实现相同放大倍数时的空间排布简单等优点。根据晶体衍射成像原理及对数螺线晶体的表面方程, 分析了透射式对数螺线晶体分析器的成像原理以及成像性能, 包括子午、弧矢放大倍数以及视场大小等。以铜靶X射线源为背光源, 用研制石英晶体透射对数螺线分析器对网丝直径为100 μm的金属网格进行了单色背光成像实验。实验结果表明, 晶体分析器的空间分辨力约为30 μm, 子午和弧矢方向视场分别达到15.938 7 mm和5.900 6 mm。

共光轴体全息存储是体全息存储技术实用化的一个发展方向。为了选择合适的参数以搭建基于晶体的透射式共光轴体全息存储系统，对该系统的存储容量、串扰特性和晶体在共光轴存储结构中的存储特性等进行了研究。从理论上分析了共光轴体全息存储系统的存储密度、物镜的参数、空间光调制器的像素尺寸、有效像素数目和移位复用间隔等之间的关系，给出了点扩展函数表达式的物理解释，并根据点扩展函数分析了系统的串扰特性，优化了存储偏振光方向以使晶体表现出最大的动态范围。根据分析优化结果搭建了基于LiNbO3晶体的透射式共光轴体全息存储实验系统，实现了高分辨图像的记录与再现。与传统的双轴系统相比，所搭建的共光轴系统具有光路结构紧凑的特点。

本文介绍我们研制的一种大气透射式能见度仪，该测试仪通过光对大气中多种消光粒子的透射，获取消光系数的数值，进而判定天气现象。研制的样机经实际应用检测表明，该大气透射式能见度仪的工作原理和技术路线正确。实测样机的监测误差为10%～20%，指标达到或接近芬兰VAISALA 同类产品水平，可以满足实际应用要求。

介绍了在真空转移装置中进行透射式Ag-O-Cs光电阴极制作的工艺过程,研究了阴极厚度、银膜氧化、激活温度、Cs量等对阴极性能的影响,制作了性能达到阴极灵敏度20 μA/lm以上、光谱响应范围为300～1 200 nm的光电阴极,将此阴极用于具有1 000倍以上增益的微通道板光电倍增管中,整管暗电流小于10 nA。