在相机研制过程中，电路参数的每次调整都伴随着对相机输出满阱的测试，参数调整繁复，满阱测试的次数过多。为获得最佳的满阱输出性能，对电路各项参数进行精确匹配，提高满阱测试的效率，设计了一套自动化满阱性能测试平台。研究了影响电荷耦合器件满阱性能的因素，建立了光子转移曲线模型，提出了一种光子转移曲线快速取点法，并讨论了模型和方法在满阱测试中的应用。搭建了包括光源系统、成像电路、和温度采集系统在内的测试平台，并完成了自动化流程的软硬件设计。将该测试平台应用于在研相机的测试，验证了平台构造和测试方法的正确性，测量精度优于±1.6%，满足科学级相机的研制使用要求。

在CCD成像电路的研发过程中，为了确保CCD达到最优的满阱性能，需要不断调整CCD驱动信号参数并进行满阱测试，该过程通常需要重复几十甚至上百次。通用的光子转移曲线法需要积分球等设备搭建平场光源，系统复杂，满阱测试效率较低。提出了一种满阱测试方法——LED点测试法，该方法通过光子转移曲线法获取系统增益后，仅通过搭建LED点光源配合普通民品镜头即可实现CCD满阱测试。基于载荷CCD成像电路，使用LED点测试法进行测试。结果表明，载荷CCD的满阱电子数可达817.013ke^-，误差不大于0.643%。针对LED点测试的同组数据采用传统满阱测试方法进行测试，对比结果表明，LED点测试法和传统测试方法相对光子转移曲线法的误差分别为0.039 7%和1.9%。LED点测试法可用作简易条件下快速测量CCD满阱的通用方法，能够提升CCD成像电路的研发效率。