扩展柯西色散模型是表征混合液晶在可见光至红外光谱的通用双折射率色散模型,然而随着混合液晶的应用范围进入紫外光谱区,扩展柯西色散模型不能很好地表征混合液晶在该波长范围内的双折射率色散。为此,引入Sellmeier模型表征混合液晶在紫外至红外光谱的双折射率色散,并利用光谱椭偏仪精确测量混合液晶的双折射率数值,然后采用非线性拟合的方法求解Sellmeier模型系数。结果显示,扩展柯西模型的χ2检验数值为0.0349,而Sellmeier模型的χ2检验数值为0.0019,在标准测试波长589 nm以及紫外波段378 nm下,Sellmeier模型拟合值都更接近于实际测量值。通过实验和χ2检验对比分析可以证明,相比于扩展柯西色散模型,Sellmeier模型在紫外至红外波段具有更好的拟合效果。

文章利用Jones矩阵方法计算和分析了双折射率色散效应对一种液晶可调光衰减器(VOA)衰减能力的影响。结果表明，当激光谱线宽度较窄时，双折射率色散效应将导致液晶VOA的光衰减能力大幅度减弱；反之，双折射率色散效应对液晶VOA光衰减能力的影响可以忽略，但液晶VOA本身的光衰减能力很低。因此，液晶VOA适用于较窄线宽的激光光源，在设计和使用时应充分考虑液晶双折射率色散效应对其光衰减能力的影响。

根据石英晶体双折射率的色散特性,对石英波片的偏光干涉谱进行了理论分析和数值模拟,提出了一种石英波片延迟量和厚度的偏光干涉标定法。即由偏光干涉谱,可以得出石英波片在200～2000 nm宽光谱范围内的延迟量；通过对长波段的偏光干涉谱极值波长的精确判断,可以准确地计算出该石英波片的厚度。利用Lambda 900 紫外可见近红外分光光度计对一片石英波片的偏光干涉谱进行了测量。在波长精度为0.1 nm的情况下,测量的厚度精度为0.1 μm。误差分析结果表明,通过提高光谱的最小分辨力及选择较长的光谱波段进行测量计算,可以有效地降低误差。

A spectroscopic method to determine thickness of quartz wave plate is presented. The method is based on chromatic polarization interferometry. With the polarization-resolved transmission spectrum (PRTS) curve, the phase retardation of quartz wave plate can be determined at a wide spectral range from 200 to 2000 nm obviously. Through accurate judgment of extreme points of PRTS curve at long-wave band, the physical thickness of quartz wave plates can be obtained exactly. We give a measuring example and the error analysis. It is found that the measuring precision of thickness is mainly determined by the spectral resolution of spectrometer.