1 中国科学院光电技术研究所， 四川 成都 610209
2 电子科技大学光电信息学院， 四川 成都 610054
3 中国科学院研究生院， 北京 100049
4 华南理工大学电子与信息学院， 广东 广州 610540
针对接近接触式光刻技术的特点，提出了一种实用的反射式光刻对准方案。方案采用差动叠栅条纹对准技术，以叠栅条纹相位作为对准信号的载体。在掩模和硅片上分别设计两组位置相反、周期接近的光栅对准标记。电荷耦合器件(CCD)成像系统接收叠栅条纹图像，采用傅里叶变换提取叠栅条纹相位，得到掩模与硅片的相对位置关系。设计的标记可同时探测横纵方向的对准偏差。给出了合理的光路设计方案,详细分析了整个系统对准的内在机制，建立了可行的数学模型。研究表明，当对准偏差小于1 pixel时，最大误差低于0.002 pixel。与透射式光路对比，该方案更具有实用性，满足实际对准的要求。
光栅 光刻对准 反射式光路 叠栅条纹 光栅标记
1 公安部第一研究所光电技术事业部,北京,100044
2 北京直真节点技术开发有限公司,北京,100080
论述了一种典型隐形防伪二维码识读系统的光学设计方法.设计合理利用反光镜折断光路减小检测面法线方向光学长度,使得系统总体紧凑协调,同时保证了图像处理所要求的高质量成像要求,这种设计的优点对大检测面场合尤其显著.最后通过实例分析给出了清晰的设计计算过程,计算结果满足初始的设计需求.该设计方法已应用到防伪二维码识别产品中,对其他类似的证件专用识读系统(OCR阅读系统)有参考价值.
隐形防伪 二维码识读系统 大检测面成像检测 反射式光路设计
