采用本征模展开法(EME)结合完全匹配层(PML)边界条件,研究了由TiO2和SiO2复合膜结构组成的平面光子晶体Bragg微腔的模式特性，分析了介质厚度无序对微腔模式的调制以及入射角对局域长度的影响.结果表明,若光束正入射，带边局域长度要大于禁带局域长度，随着无序度的增加光子通带的透过率逐渐降低,而禁带的透过率逐渐上升.当无序度较小时，局域长度随随机度的变化在带边和禁带内表现出相反的规律.当无序度较大时，局域长度不仅和随机度、带隙有关，还受到材料的影响；若光束斜入射，TE模的局域长度要远小于TM模对应的值，且其最小值向短波方向移动。此外，入射角和膜层数的变化都会导致局域长度的起伏.

研究了由正和负两种折射率介质交替排列构成的一维光子晶体布拉格微腔的透射谱和缺陷模性质,并将传输矩阵各矩阵元在中心频率附近采用泰勒展开并取一级近似,得到了中心频率附近缺陷模的透射率公式和品质因子公式。研究结果表明：一级近似法能很好地解释由于缺陷层厚度变化而引起的中心频率附近缺陷模频率变化的规律,缺陷模品质因子公式与数值计算结果十分吻合；处于中心频率处的缺陷模具有较高的品质因子,增大缺陷层厚度和布拉格镜周期数可提高缺陷模的品质因子。