采用本征模展开法(EME)结合完全匹配层(PML)边界条件,研究了由TiO2和SiO2复合膜结构组成的平面光子晶体Bragg微腔的模式特性，分析了介质厚度无序对微腔模式的调制以及入射角对局域长度的影响.结果表明,若光束正入射，带边局域长度要大于禁带局域长度，随着无序度的增加光子通带的透过率逐渐降低,而禁带的透过率逐渐上升.当无序度较小时，局域长度随随机度的变化在带边和禁带内表现出相反的规律.当无序度较大时，局域长度不仅和随机度、带隙有关，还受到材料的影响；若光束斜入射，TE模的局域长度要远小于TM模对应的值，且其最小值向短波方向移动。此外，入射角和膜层数的变化都会导致局域长度的起伏.
布拉格微腔 本征模展开法 完全匹配层边界条件 厚度无序 Bragg micro-cavity Eigen-mode expansion method Perfectly matched layer absorbing boundary conditi Random thickness
分析了由Ag和Si3N4多层纳米薄膜组成的特异材料的模式特性，使用本征模展开法(EME)结合完全匹配层（PML）边界条件模拟了该结构的亚波长成像行为，在法布里-珀罗(Fabry-Perot)条件（结构的长度是半波长的整数倍）条件下，研究发现邻近系统的点源会在另一侧成实像，这种成像基于自准直而并不是负折射.研究结果证实了金属-电介质多层膜结构可以在光波段实现近场成像.
亚波长成像 自准直 金属-电介质多层膜 本征模展开法 Subwavelength imaging Sself-collimation Metallodielectric nanofilms Eigen-mode expansion method.
