使用STM32F103ZET6单片机控制, 采用PA92功率放大器驱动压电陶瓷, 设计了532nm平平腔结构的F-P扫描干涉仪。腔镜反射率为99%, 精细度310, 腔长0.1~150mm连续可调, 对应自由光谱区1~1500GHz和分辨率3.2~4800MHz连续可调。压电陶瓷驱动电压和频率通过编码器调节, 可以在0~200V和1~100Hz连续可调, 并显示在数码管上。同时可以通过RS232串口与计算机通讯, 在上位机使用LabVIEW软件界面方便地设置压电陶瓷驱动电压和频率。使用F-P扫描干涉仪, 对激光二极管泵浦Nd∶YVO4/KTP绿光激光器纵模进行了测量, 验证了整个系统的工作性能稳定可靠。

为了判定被测激光的模式特征, 基于激光的频率特性, 提出了一种测量激光陀螺谐振腔横模特征的方法.利用F-P扫描干涉仪, 可以实时在线测量激光模式分布特性, 该方法以已知F-P扫描干涉仪的频率间隔和扫频速度为比例尺, 将难以测量的横模频率间隔转化为易于测量的时间间隔, 通过测量从扫描干涉仪给出的谱图, 计算出不同横模的频率间隔与纵模间隔的比例系数, 并与该陀螺的理论比例系数进行比较, 从而实现对激光陀螺谐振腔横模特征的精确判定.通过对某型环形激光谐振腔的测量实验, 得到了该陀螺模式特征随着工作电流大小变化的规律: 随着放电电流的增加, 激光陀螺腔内所振荡的横模由单一的基模逐渐转变为基模和高阶模的混合模,并准确地判定出该谐振腔横模特征, 其测量结果与理论结果误差小于2%.利用该方法横模频率间隔测量准确度可达1 MHz, 重复性可达0.4 MHz.

通过分析F-P扫描干涉仪的工作原理，基于STC89C52RC单片机，采用PA93功率放大器驱动压电陶瓷，设计了1 064 nm平平腔结构的F-P扫描干涉仪。腔镜反射率为98%，精细度156，腔长0.1~100 mm连续可调，对应自由光谱区1.5~1 500 GHz和分辨率9.65~9 650 MHz。压电陶瓷驱动电压和频率通过4×4矩阵键盘，可以在0~200 V和1~30 Hz连续可调，显示在1 602液晶屏上。同时可以通过RS232串口与计算机通讯，在上位机使用LabVIEW软件界面方便地设置压电陶瓷驱动电压和频率。最后使用该F-P扫描干涉仪，对激光二极管泵浦Nd: YVO4激光器纵模进行了测量，验证了整个系统的工作性能。

频率扫描干涉仪对测量过程中光程差的漂移非常敏感，目标镜的微小位移会被放大几千倍，使得测量结果严重失真，因此必须消除或减弱漂移误差。针对现场测量中目标镜的低频振动或缓慢漂移，根据光频连续正反向扫描测量值漂移误差放大项大小近似相等、符号相反的特性，提出了一种光频连续正反向快速扫描的漂移误差补偿方法，并进行了频率扫描干涉仪漂移误差补偿实验，分析对比补偿前后的实验结果，验证了该方法的可行性。实验结果表明，在测量距离约1543.3 mm处，目标镜振动频率为4.7 Hz，振幅为1 μm，采用补偿后，连续40次采样测量的标准差由补偿前的51.9 μm下降到8 μm。

用布里渊散射信号可以探测水下目标。介绍三种基于布里渊散射的水下目标探测方法：F-P扫描干涉仪探测方法、边缘探测方法、F-P标准具-ICCD探测方法,并对这三种方法进行了分析和比较。

提出了一种利用激光谐振腔测量透明介质薄板光学均匀性的新方法.该方法将对折射率微差的测量转化为对激光谐振频率的变化进行测量.两种样品的实验对比结果表明,该方法可以实现10-5量级以上灵敏度的光学均匀性测量.最后分析了实验结果的误差及适用的灵敏度测量范围.

本文提出了用平面F-P扫描干涉仪测量双谱线激光振荡模的方法,并对3.3922 μm和3.3912 μm双谱线He-Ne激光振荡模进行了实际测量。