1 中国科学院上海技术物理研究所,红外物理国家重点实验室,上海,200083
2 中国科学院上海技术物理研究所,功能材料器件中心,上海,200083
提出并实现了用微米级空间分辨率的显微光致发光(μ-PL)平面扫描谱对CdZnTe(CZT)晶片的表面亚微米层特性研究.在含缺陷区域进行微米尺度和在大面积范围内进行毫米尺度的逐点PL测量.对测得每一点的PL谱进行了拟合.拟合参数中等效温度Tc的统计分布给出两个分布中心,表明存在有两种机制的发光过程.同时统计结果给出发光各点的不均匀性.等效温度的平面分布图直观地给出了各温度的平面位置，样品经溴抛光后重复类似的测量,结果表明等效温度的统计均匀性大为改善.抛光后的不同的缺陷点表现出不同的发光特性,意味着各自起源的不同.大面积PL扫描的统计结果和平面分布给出样品特性的整体评价.
CdZnTe晶体 显微光致发光 平面扫描 等效温度. CdZnTe crystal micro-photoluminescence mapping effective temperature.
