Author Affiliations
Abstract
中国科学院上海光学精密机械研究所, 中国科学院高功率激光物理重点实验室, 上海 201800
Based on the vibration theory and the matrix optics theory, the principle of the optical image method to test the beam positioning stability is derived. The test method of beam positioning stability is designed, and the experimental results show that the optical image method can accurately analyze the range of the beam positioning stability error, also can analyze the value and influence degree of vibration frequency of the error, and combined with the accelerometer by the electron test method, the source of the error can be detected in the optical system. The optical-electro test method is reliable, simple and convenient, and has good engineering application value, especially for large optical system.
光束指向稳定性 电学法 光学图像法 振动频率 beam positioning stability electron test method optical image test method vibration frequency 
Collection Of theses on high power laser and plasma physics
2016, 14(1): 68
作者单位
摘要
中国科学院上海光学精密机械研究所, 中国科学院高功率激光物理重点实验室, 上海 201800
从振动的基本理论出发,应用矩阵光学理论,推导了光学图像法测试光束指向稳定性的原理。设计了光电法测试光束指向稳定性的测试应用,并搭建了实验光路,结果表明:光学图像法可以准确分析光束指向稳定性误差的大小、产生的误差的振动频率及其影响程度,并结合加速度计的电学法测试,可以探测光路中引起光束指向误差的来源。光电法测试结果正确可靠、简单方便,具有较好的工程应用价值,特别适合大型光学系统的光束指向稳定性测试。
光束指向稳定性 电学法 光学图像法 振动频率 beam positioning stability electron test method optical image test method vibration frequency 
光学与光电技术
2016, 14(5): 68
作者单位
摘要
中国电子科技集团公司第十三研究所,河北 石家庄 050051
为了有效实现对微波功率器件的热特性分析,在瞬态红外设备基础上开发了一套用于获取微波功率器件降温曲线的测量系统。分析了瞬态红外设备的原理,并根据降温曲线测量的需要对设备进行改造,开发了数据采集和处理系统,扩展了原有设备的功能,重新设计了测温流程、数据处理算法和相应的软件系统,实现了对GaN HEMT器件不同工作条件下降温曲线的测量。测量的降温曲线满足现有国际标准JESD51系列的要求,在器件热特性分析方面具有较好的应用前景。
红外测温技术 降温曲线 电学法 infrared thermal measurement technique cooling curve electrical method 
光学仪器
2016, 38(2): 100
作者单位
摘要
1 上海交通大学应用物理系,光电材料与光电器件实验室,上海,200030
2 中国科学院上海技术物理研究所,半导体薄膜材料研究中心,上海,200083
为了证实某一研究结果的正确性,常常需要采用两种以上相互独立的方法对同一物理量进行测量或计算。本文采用新颖的远红外光谱技术和常用的Hall、C-V等电学测量技术同时对MBE生长的ZnSe:Cl,N薄膜中的载流子浓度进行评价研究,发现电学法和光学法测量的结果可以很好地吻合,从而确认了ZnSe宽禁带蓝绿色发光材料中较高的掺杂水平。
N单晶薄膜 载流子浓度 电学法测量 光学法测量 ZnSe:Cl ZnSe:Cl N crystal film carrier concentration electrical examination optical examination 
量子电子学报
2000, 17(1): 85

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!