1 电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 成都 610054
2 成都华微电子科技有限公司, 成都 610041
3 西北核技术研究所, 西安 710024
对10万门基于静态随机存储器的现场可编程门阵列（FPGA）分别在锎-252（252Cf）源和HI-13串列加速器下进行了单粒子效应试验研究，测试了静态单粒子翻转截面及发生单粒子闩锁的线性能量转移阈值，并对试验结果进行了等效性分析比较。试验结果表明：252Cf源引起的FPGA单粒子翻转截面比重离子加速器引起的约低1个数量级；使用252Cf源未能观测到该器件的单粒子闩锁现象，而使用重离子加速器可以测出该FPGA发生单粒子闩锁的线性能量转移阈值；在现代集成电路的宇航辐射效应地面模拟单粒子效应试验中，252Cf源不是理想的测试单粒子闩锁的辐射源。
现场可编程门阵列 单粒子效应 252Cf源 重离子加速器 线性能量转移阈值 field programmable gate array single event effect californium-252 heavy-ion accelerator linear energy transfer threshold
