天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室, 天津 300072
设计一种两光束相向照射，在散射角θ=90°方向记录的干涉粒子成像测量实验系统，利用模版匹配相关方法提取粒子两点像的位置坐标，根据粒子像位置坐标，粒子掩模图的形状和大小提取出单个粒子两点像。再对每个粒子两点像进行自相关、Gaussian 插值提取两点像之间距离，进而计算得到粒子尺寸大小，其测量精度可达到亚像素精度。对标称值为45 μm 的标准粒子进行了测量，粒径测量值为(46.54 ± 0.50) μm，相对误差3.42%。实验结果表明了该方法的可行性。
测量 干涉粒子成像 双光束照明 聚焦像 粒子尺寸测量 中国激光
2015, 42(12): 1208006
1 电子科技大学自动化工程学院, 成都 610054
2 中国工程物理研究院应用电子学研究所, 绵阳 621900
提出了一种利用CCD单目图像的灰度梯度测量三维表面的方法――灰度梯度法。巧妙地运用中间变量,找到灰度梯度与聚焦像表面梯度之间的映射关系,将灰度约束方程转变为可求解的一元方程,从而解出聚焦像表面的深度信息。利用聚焦像表面与物体间的几何光学的约束以及它们之间的空间共轭对称关系,将该三维表面变换到实际三维尺寸,以达到三维测量的目的。最后对影响该测量系统的误差进行了分析。该方法克服了传统的光切法因过多冗余图像而使测量效率低的缺点,且该方法约束条件容易实现。对球体和柱面体的试验误差率分别为6.0%和4.85%,显示出该方法在一定范围内是有效的。
光学测量 灰度梯度法 聚焦像表面 光敏像 三维重构
