1 北京应用物理与计算数学研究所,北京,100088
2 哈尔滨工业大学理学院,黑龙江,哈尔滨,150001
3 中国原子能科学研究院,北京,102413
利用哈尔滨工业大学的毛细管放电装置的放电参数,对放电过程中毛细管内初始氩气密度的变化对等离子体状态和类氖氩离子3p-3s跃迁线的增益系统的影响进行了全过程的理论模拟计算.给出了毛细管放电中等离子体状态和增益系数的空间分布的时间演变过程.理论计算表明能够出现增益的密度范围比较宽,这对于实验是有利的.现有放电参数下,选取初始氩气密度在气压为40～80 Pa情况对获取好的实现结果是比较理想的.
初始密度 毛细管放电 等离子体状态 增益系数 Initial density Capillary discharge Plasma condition Gain coeffienent 强激光与粒子束
2005, 17(10): 1441
1 北京应用物理与计算数学研究所,北京,100088
2 中国原子能科学研究院,北京,102413
3 哈尔滨工业大学可调谐激光技术国家重点实验室,黑龙江,哈尔滨,150001
以哈尔滨工业大学可调谐激光技术国家重点实验室中的Marx发生器的放电脉冲波形为基础,理论上模拟计算了在不同放电参数下充氩气的毛细管放电产生的等离子体状态和类氖氩离子3p-3s跃迁线的增益系数的时空演变过程.中心模型中,选取内径为3.1 mm的陶瓷毛细管并充入初始密度为1.07×10-6g·cm-3的氩气,电流脉冲峰值为27.81 kA,脉冲宽度为61.4 ns.改变放电参数进行模拟,结果表明:上升前沿越陡,则增益系数越大,电流脉冲上升时间在20～40 ns,电流峰值在25～40 kA,电流脉冲宽度在50～70 ns范围内,毛细管放电产生的等离子体状态比较理想,可获得较高的增益系数.
毛细管放电 上升时间 电流脉冲峰值 脉冲宽度 软X射线激光 Capillary discharge Rise time Peak of current pulse Pulse width Soft X-ray laser
1 北京应用物理与计算数学研究所,北京100088
2 中国科学院,上海光学精密机械研究所,上海,201800
用数值模拟程序计算了脉宽1.5ps预脉冲和主脉冲激光,经1.2ns的时间延迟先后泵浦喷射的密度为6.632×10-3g/cm3的氩气柱,以获得高增益的类氖离子电子碰撞激发3p-3s跃迁激光的可能性。结果表明:在等离子体中能够形成宽的类氖离子丰度大于50%的区域,并且具有大于1020cm-3的自由电子密度。主脉冲到达之后迅速加热自由电子,高密度的自由电子与类氖离子碰撞激发形成具有很高增益系数的增益区,增益区的半高宽度大约100μm,一维理论计算的增益系数为200～300cm-1,持续时间大约相当于泵浦激光的时间宽度,在1～2ps之间.
预主脉冲 类氖氩离子 X射线激光 Prepulsed and mainpulse Neon-like ions X-ray laser
对线极化超短脉冲强场电离进行了回顾和分析。对不同参数的超短脉冲、线极化强激光与轻元素气体靶相互作用产生的等离子体中电子剩余能进行了解析和粒子模拟数值计算。考虑到强场线极化光产生的等离子体的高电离度和低电子温度的特点,采用了有别于通常计算逆轫致吸收的方法,用零温度近似计算逆轫致效应。模拟过程中还考虑了纵向电场效应。给出了强场线极化光与氦和氖元素气态靶相互作用的理论计算结果和相应的结论。
光场电离 线极化 阈上电离 逆轫致 optical field ionization linear polarized light above-threshold-ionization inverse bremmsstrahlung
美国Laser Expert公司研制成激光加工用的专门系统，用以诊断激光加工机的故障，并对操作者提出最隹的加工条件。1988年3月将出售供CO2激光切割机用的带有该系统软件的硬件。还将报道CO2、YAG激光焊接机用的系统。价格预计为5000~8000美元。
日本小丝制作所采用He-Cd振荡源，成功地使含蓝、绿、红三原色的白光激光器稳定振荡，输出功率200 mW,相当于以往的三倍左右。
麻省理工学院宇航系与电子工程-计算机科学系合作试制成测定风洞壁面声压的新型压力传感器，利用光的干涉读取由硅片制成的膜片因声压造成的弯曲。
最近，日本工业技术院计量研究所量子计测研究组使用点接触式约瑟夫逊混频器对50千兆赫的微波与4.25太赫的远红外光混频获得成功。由此将50吉赫的微波频率提高到84倍左右，可望能精确测定微波与光学之中间区域的频率。
最近，日本工业技术院计量研究所试制出利用激光的干涉现象测定U形管液压计液面髙低差的微压计。使U形管一端连接标准压力，即能以0.01 Pa(相当于100亿分之一大气压）的精度测定另一端压力与基准压力之差。
