强激光与粒子束, 2009, 21 (6): 835, 网络出版: 2009-11-24
光学元件亚表面缺陷的全内反射显微检测
Total internal reflection microscopy:a subsurface defects identification technique in optically transparent components
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | O436 |
栏目: | ICF与激光等离子体 |
项目基金: | 中国工程物理研究院预研重大基金项目(2007A08001) |
收稿日期: | 2008-12-10 |
修改稿日期: | 2009-03-31 |
网络出版日期: | 2009-11-24 |
通讯作者: | 邓燕 (dyanswallow2004@126.com) |
备注: | -- |
邓燕, 许乔, 柴立群, 徐建程, 石琦凯, 罗晋. 光学元件亚表面缺陷的全内反射显微检测[J]. 强激光与粒子束, 2009, 21(6): 835. Deng Yan, Xu Qiao, Chai Liqun, Xu Jiancheng, Shi Qikai, Luo Jin. Total internal reflection microscopy:a subsurface defects identification technique in optically transparent components[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2009, 21(6): 835.