光电技术应用, 2012, 27 (2): 38, 网络出版: 2012-05-08
电化学腐蚀MCP中载流子传输特性作用与影响分析
Carrier Transportation Characteristic and Effect in Electrochemical Corrosion of MCP
硅 MCP阵列 光生空穴 输运特性 电化学刻蚀 silicon MCP array photon generated positive hole transportation characteristic electrochemical corrosion
知识挖掘
相关论文
2024年
2023年
2023年
2022年
2019年
2016年
2015年
2012年
2012年
2010年
本文相似领域研究进展,
知识服务
本文主要研究领域论文发表情况:
4篇
2篇
1篇
1篇
本文研究领域论文发表情况(统计图):
任天宇, 薛阳, 端木庆铎, 石晓光, 王培翎, 张影, 李璐璐. 电化学腐蚀MCP中载流子传输特性作用与影响分析[J]. 光电技术应用, 2012, 27(2): 38. REN Tian-yu, XUE Yang, DUANMU Qing-duo, SHI Xiao-guang, WANG Pei-ling, ZHANG Ying, LI Lu-lu. Carrier Transportation Characteristic and Effect in Electrochemical Corrosion of MCP[J]. Electro-Optic Technology Application, 2012, 27(2): 38.