傅里叶红外光谱仪(FTIR)光谱响应度的标定工作是FTIR红外光谱精准测量的基础。基于中国计量科学研究院(NIM)的ThermoGage HT9500型高温基准黑体辐射源, 对NIM搭建的FTIR高温黑体红外辐射特性测量系统的光谱响应度, 通过分段线性标定法进行了标定实验。建立并描述了FTIR测量高温黑体红外辐射特性系统响应度函数标定模型, 并通过测量的黑体辐射源在1 273~1 973 K温区、1~14 μm宽频谱内的红外光谱, 对FTIR测量系统的光谱响应度进行了标定实验研究。结果表明: 分段线性标定FTIR红外光谱测量系统方法具有良好可靠性。1 373~1 873 K温区的测量光谱与基于黑体标定的计算光谱在1~14 μm频谱内平均偏差优于1%, 黑体光谱辐射亮度峰值波长上反演得到的黑体计算温度与实际温度偏差优于0.45%。

基于离轴干涉原理和共光路结构布局, 设计和搭建了以激光作为光源的衍射相位显微成像系统, 在未放样品的情况下, 测得该系统的平均噪声误差仅有6.70 nm.利用标称直径为4.8 μm的标准聚苯乙烯微球来检验该系统检测的准确性, 测量误差与理论预期结果相比不超过4%.用该系统测量100只贾第鞭毛虫包囊个体, 并重建贾第鞭毛虫包囊的相位图, 在相位图的基础上, 估算出每个贾第鞭毛虫包囊的干质量.对测量结果进行统计分析, 结果表明贾第鞭毛虫包囊呈椭圆形状, 长轴范围为8~15 μm, 短轴范围为4~7 μm, 包囊的干质量在42.70~137.07 pg之间.该衍射相位显微成像系统采集速度快、准确性高, 可以满足对单个寄生虫形态和干质量进行定量分析的需求.

在导电玻璃上水热生长TiO2纳米线, 随后利用电沉积技术涂覆MoO3薄膜, 制备出TiO2/MoO3复合薄膜.通过X射线衍射、扫描电子显微镜表征证实了TiO2/MoO3复合薄膜的形成.利用电化学测试方法, 在LiClO4/PC溶液中对Li+的注入/抽出进行了研究, 采用紫外可见分光光度计对薄膜着色、退色状态的光透过率进行测试.得到了切换时间、循环可逆性、光调制和着色效率等参数.对其电致变色性能进行分析, 分析表明, 与单一TiO2和MoO3薄膜的电致变色性能相比, 复合薄膜的电致变色性能有明显增强.同时研究了不同厚度MoO3薄膜对复合薄膜变色性能的影响, 研究表明沉积6个循环MoO3薄膜的TiO2/MoO3复合薄膜具有最佳的电致变色性能.

联合GPS、ISN、LiDAR、测距机等, 构建超POS信息；计算最小视场分辨率、像元数、焦距等选择相机；将POS采集系统与相机组合成LiDAR多通道光谱图像异常识别系统.采用多通道匹配融合法融合紫、红外、彩色图片, 基于Hough变换, 通过同族容器归纳法确定疑似故障点.运用Hough变换、免疫遗传Snake、最小二乘法解析椭圆形貌, 解决绝缘子异常识别问题.工程实验表明, 该系统平均探测精度是82.4%, 优于直升机与人工平均值24.05%, 是一种高效率的智能电网巡线排查手段.

在电化学腐蚀硅微通道这一工艺过程中，温度是其中一个很重要的影响因素。通过研究温度对电化学腐蚀硅微通道过程中空穴输运的影响，加深对电化学腐蚀硅微通道这一过程的认识。利用电化学光照辅助阳极氧化法以n型（100）晶向单晶硅为研究对象，设计实验，得到硅微通道阵列在不同温度条件下的I-V特性扫描曲线、孔道的形貌以及孔道的深度；根据晶体中的散射机制的相关原理，研究了温度与载流子迁移率和扩散系数之间的关系；根据实验，得到了暗电流与温度的关系。最后通过对上述实验结果的分析，得出温度越低由空穴输运产生的空穴电流密度就越低，同时暗电流的值也越低，在较低温度下通过电化学腐蚀法制备的硅微通道结构形貌较好。

Nd:LuVO4晶体因具有相比于Nd:YVO₄ 和 Nd:GdVO₄晶体更大的吸收和发射截面而受到广泛关注。一种高效的泵浦方式因此而产生：将Nd³⁺离子直接泵浦到⁴F_3/2激光上能级来改善激光器参数，不仅可以减小激光器的阈值，提高激光器的斜效率，并且可以降低非辐射跃迁过程中所产生的热量。利用888 nm激光二极管直接泵浦Nd:LuVO₄晶体，实现了准三能级Nd:LuVO₄激光器。当入射泵浦功率为18.6 W时，916 nm的输出功率为2.5 W，激光器的阈值功率为4.7 W，相应的斜效率为17.8%。入射泵浦功率不变的情况下，获得的最大蓝光输出功率为743 mW。蓝光输出功率的稳定性高于3%。光束质量M²的值为1.12。

基于硅的电化学腐蚀基理, 通过电化学阳极氧化法制备多孔硅结构, 用扩散限制模型和Si的氧化原理来探究阳极氧化条件对多孔硅性质的影响。首先, 研究HF对多孔硅孔隙率和刻蚀速率以及腐蚀界面的粗糙度的影响, 然后研究了在不同电流密度时多孔硅的刻蚀特性。结果表明, 在HF(49 wt.%)与乙醇的体积比为2:3的电解液中刻蚀多孔硅时, 随电流密度的增大, 多孔硅结构的孔隙度及刻蚀速率均逐渐增大；在电流密度为55 mA/cm2时, 刻蚀速率随电解液中HF体积含量的增大而增大, 多孔硅的孔隙度随HF体积含量的增大而减小；多孔硅-硅的界面粗糙度随电流密度和HF体积含量的增大而增大, 在HF与乙醇的体积比高于3:2时多孔硅-硅的界面粗糙度很大, 而且多孔硅膜层发生龟裂现象, 这将严重影响多孔硅光学器件的发光质量。

能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法作为化学元素分析的一种检测手段,被广泛应用于地质勘测、工矿石油、生化医疗及刑侦考古等各行各业,它是户外现场检测与分析的首选方法之一.利用EDXRF法检测茶叶中金属元素含量,对环境条件要求低,且无需对茶叶样品进行化学处理.实验检测发现,用该方法分析茶叶中金属元素时,有效X射线荧光光子能量段在3～16 keV之间,故校正光谱元素选择位于能量中心位置(8 keV)附近的铜元素,并用铜元素定标做标准曲线,在茶叶有效X射线荧光光子能量段中,通过样品加标方法分析铜、铁、锌、铅四种元素,求得平均检出限为1.25　mg·kg-1.在检测茶叶中金属元素的化学方法中,选用火焰原子吸收法测得茶叶中金属元素含量作为标准值,比较得出,EDXRF法测得数值实际相对误差小于6%,相对标准偏差小于5%,经过t检验,p＞0.05,说明EDXRF法与火焰原子吸收法在统计学上没有显著差异,两种方法所测结果吻合.结果表明,EDXRF法检测茶叶中金属含量的方法是可行的,结果满足现场检测分析需求。