半导体光电, 2017, 38 (1): 61, 网络出版: 2017-03-29  

ICP刻蚀气压对碲镉汞电学性能的影响

Effects of ICP Etching Pressure on Electrical Properties of HgCdTe
作者单位
1 中国科学院上海技术物理研究所 1.传感技术国家重点实验室
2 3. 中国科学院大学, 北京 100039
3 中国科学院上海技术物理研究所 2. 中国科学院红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
引用该论文

操神送, 杜云辰, 朱龙源, 兰添翼, 赵水平, 罗毅, 乔辉. ICP刻蚀气压对碲镉汞电学性能的影响[J]. 半导体光电, 2017, 38(1): 61.

CAO Shensong, DU Yunchen, ZHU Longyuan, LAN Tianyi, ZHAO Shuiping, LUO Yi, QIAO Hui. Effects of ICP Etching Pressure on Electrical Properties of HgCdTe[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2017, 38(1): 61.

参考文献

[1] 徐鹏霄.HgCdTe表面/界面光电特性研究[D]. 上海: 中国科学院研究生院(上海技术物理研究所), 2014: 1-2.

    Xu Pengxiao.Study on HgCdTe surface/interface optical-electrical characteristics[D]. Shanghai: University of Shanghai: Chinese Academy of Sciences, 2014: 1-2.

[2] Dziuba Z,Górska M. Analysis of the electrical conduction using an iterative method[J]. J. De Physique Ⅲ, 1992, 2(1): 99-110.

[3] Cunningham,Thiess H. Quantitative mobility spectrum analysis of Ⅲ-Ⅴ heterostructures on silicon[D]. Texas State University, 2012.

[4] 褚君浩.窄禁带半导体物理学[M]. 北京: 科学出版社, 2005: 288-291.

    Chu Junhao.Narrow Bandgap Semiconductor Physics[M]. Beijing: Science Press, 2005: 288-291.

[5] Dornhaus R,Nimtz G. The properties and applications of the Hg1-xCdxTe alloy system[J]. Springer Tracts in Modern Physics, 1976, 98(17): 119-300.

[6] 褚君浩.窄禁带半导体物理学[M]. 北京: 科学出版社, 2005: 495.

    Chu Junhao.Narrow Bandgap Semiconductor Physics[M]. Beijing: Science Press, 2005: 495.

[7] 杨建荣.碲镉汞材料物理与技术[M]. 北京: 国防工业出版社, 2012: 88-89.

    Yang Jianrong.HgCdTe Material Physics and Technology[M]. Beijing: National Defence Industry Press, 2012: 88-89.

[8] 唐洁影,汪开源. 合金散射机制与电子迁移率研究[J]. 东南大学学报: 自然科学版, 1995, 25(3): 130-133.

    Tang Jieyin,Wang Kaiyuan. Study on scattering mechanisms and electronmobility of In_(0.53)Ga_(0. 47)As alloy[J]. J. Southeast University: (Natural Science Edition), 1995, 25(3): 130-133.

[9] 褚君浩.窄禁带半导体物理学[M]. 北京: 科学出版社, 2005: 930.

    Chu Junhao.Narrow Bandgap Semiconductor Physics[M]. Beijing: Science Press, 2005: 930.

[10] Carmody M,Edwall D, Ellsworth J, et al. Role of dislocation scattering on the electron mobility of n-type long wave length infrared HgCdTe on silicon[J]. J. of Electronic Materials, 2007, 36(8): 1098-1105.

[11] Carmody M,Edwall D, Ellsworth J, et al. Role of dislocation scattering on the electron mobility of n-type long wave length infrared HgCdTe on silicon[J]. J. of Electronic Materials, 2007, 36(8): 1098-1105.

[12] 萧继荣,林杏朝. 影响碲镉汞晶体电子迁移率的主要因素[J]. 红外技术, 1998(1): 13-14.

    Xiao Jirong,Ling Xingchao. Main factors of influence on electron mobility of HgCdTe crystals[J]. Infrared Technology, 1998, 20(1): 13-14.

操神送, 杜云辰, 朱龙源, 兰添翼, 赵水平, 罗毅, 乔辉. ICP刻蚀气压对碲镉汞电学性能的影响[J]. 半导体光电, 2017, 38(1): 61. CAO Shensong, DU Yunchen, ZHU Longyuan, LAN Tianyi, ZHAO Shuiping, LUO Yi, QIAO Hui. Effects of ICP Etching Pressure on Electrical Properties of HgCdTe[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2017, 38(1): 61.

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