中国激光, 2012, 39 (9): 0909001, 网络出版: 2012-07-04   

基于等效叠栅的反射式光刻对准模型研究

Alignment Scheme Research Based on Equivalent Overlapped Gratings for Reflective Lithography Alignment
作者单位
1 中国科学院光电技术研究所, 四川 成都 610209
2 电子科技大学光电信息学院, 四川 成都 610054
3 中国科学院研究生院, 北京 100049
4 华南理工大学电子与信息学院, 广东 广州 610540
基本信息
DOI: 10.3788/cjl201239.0909001
中图分类号: O436.1
栏目: 全息与信息处理
项目基金: 国家自然科学基金(60976077,61076099)资助课题。
收稿日期: 2012-04-20
修改稿日期: 2012-05-14
网络出版日期: 2012-07-04
通讯作者: 朱江平 (zsyioe@163.com)
备注: --

朱江平, 胡松, 于军胜, 唐燕, 周绍林, 刘旗, 何渝. 基于等效叠栅的反射式光刻对准模型研究[J]. 中国激光, 2012, 39(9): 0909001. Zhu Jiangping, Hu Song, Yu Junsheng, Tang Yan, Zhou Shaolin, Liu Qi, He Yu. Alignment Scheme Research Based on Equivalent Overlapped Gratings for Reflective Lithography Alignment[J]. Chinese Journal of Lasers, 2012, 39(9): 0909001.

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