液晶与显示, 2017, 32 (5): 352, 网络出版: 2017-08-09   

垂直线不良分析与改善

Analysis and improvement of vertical line mura
作者单位
北京京东方显示技术有限公司, 北京 100176
引用该论文

张光明, 白金超, 曲泓铭, 张益存, 于凯. 垂直线不良分析与改善[J]. 液晶与显示, 2017, 32(5): 352.

ZHANG Guang-ming, BAI Jin-chao, QU Hong-ming, ZHANG Yi-cun, YU Kai. Analysis and improvement of vertical line mura[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2017, 32(5): 352.

引用列表
1、 网状斑点不良分析研究液晶与显示, 2019, 34 (3): 273

张光明, 白金超, 曲泓铭, 张益存, 于凯. 垂直线不良分析与改善[J]. 液晶与显示, 2017, 32(5): 352. ZHANG Guang-ming, BAI Jin-chao, QU Hong-ming, ZHANG Yi-cun, YU Kai. Analysis and improvement of vertical line mura[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2017, 32(5): 352.

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