液晶与显示, 2017, 32 (5): 352, 网络出版: 2017-08-09   

垂直线不良分析与改善

Analysis and improvement of vertical line mura
作者单位
北京京东方显示技术有限公司, 北京 100176
基本信息
DOI: 10.3788/yjyxs20173205.0352
中图分类号: TN141.9
栏目: 材料与器件
项目基金: --
收稿日期: 2016-05-09
修改稿日期: 2016-05-31
网络出版日期: 2017-08-09
通讯作者: 张光明 (zgm20030530225@163.com)
备注: --

张光明, 白金超, 曲泓铭, 张益存, 于凯. 垂直线不良分析与改善[J]. 液晶与显示, 2017, 32(5): 352. ZHANG Guang-ming, BAI Jin-chao, QU Hong-ming, ZHANG Yi-cun, YU Kai. Analysis and improvement of vertical line mura[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2017, 32(5): 352.

本文已被 1 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!