光学学报, 2020, 40 (1): 0111023, 网络出版: 2020-01-06
基于单幅图像的集成电路引脚共面性检测方法 
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Coplanarity Inspection Method for Integrated Circuit Pins Based on Single Image
基本信息
| DOI: | 10.3788/AOS202040.0111023 |
| 中图分类号: | TP391.4 |
| 栏目: | “计算光学成像“专题 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金、广东省自然科学基金、广东省高校创新团队项目、广东省科技专项（190805145540361） |
| 收稿日期: | 2019-08-29 |
| 修改稿日期: | 2019-10-09 |
| 网络出版日期: | 2020-01-06 |
| 通讯作者: | 李昇平 (spli@stu.edu.cn) |
| 备注: | -- |
吴福培, 朱树锴, 李昇平. 基于单幅图像的集成电路引脚共面性检测方法[J]. 光学学报, 2020, 40(1): 0111023. Fupei Wu, Shukai Zhu, Shengping Li. Coplanarity Inspection Method for Integrated Circuit Pins Based on Single Image[J]. Acta Optica Sinica, 2020, 40(1): 0111023.
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