光学学报, 2020, 40 (1): 0111023, 网络出版: 2020-01-06
基于单幅图像的集成电路引脚共面性检测方法 
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Coplanarity Inspection Method for Integrated Circuit Pins Based on Single Image
成像系统 三维检测 共面性检测 集成电路芯片引脚 单幅图像 imaging systems three-dimensional detection coplanarity detection integrated circuit pins single image
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