基于单幅图像的集成电路引脚共面性检测方法

吴福培; 朱树锴; 李昇平

doi:doi:10.3788/AOS202040.0111023

光学学报, 2020, 40 (1): 0111023, 网络出版: 2020-01-06

基于单幅图像的集成电路引脚共面性检测方法下载： 1216次

Coplanarity Inspection Method for Integrated Circuit Pins Based on Single Image

吴福培朱树锴李昇平 ^*

作者单位

汕头大学智能制造技术教育部重点实验室, 广东汕头 515063

补充材料

吴福培, 朱树锴, 李昇平. 基于单幅图像的集成电路引脚共面性检测方法[J]. 光学学报, 2020, 40(1): 0111023. Fupei Wu, Shukai Zhu, Shengping Li. Coplanarity Inspection Method for Integrated Circuit Pins Based on Single Image[J]. Acta Optica Sinica, 2020, 40(1): 0111023.