光学学报, 2004, 24 (1): 24, 网络出版: 2006-06-12   

厚二氧化硅光波导薄膜制备及其特性分析

PECVD Deposition and Characterization of Thick Silica Film for Optical Waveguide
作者单位
1 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,光及电磁波研究中心,杭州,310027
2 浙江工程学院材料工程中心,杭州,310027
基本信息
DOI: --
中图分类号: O484.5
栏目: 光纤光学与光通信
项目基金: 浙江省科技计划重大项目(001101027)、高等学校重点实验室访问学者基金资助课题.
收稿日期: 2002-09-27
修改稿日期: 2003-04-21
网络出版日期: 2006-06-12
通讯作者: 娄丽芳 (lflou@hotmail.com)
备注: --

娄丽芳, 盛钟延, 姚奎鸿, 肖丙刚, 何赛灵. 厚二氧化硅光波导薄膜制备及其特性分析[J]. 光学学报, 2004, 24(1): 24. 娄丽芳, 盛钟延, 姚奎鸿, 肖丙刚, 何赛灵. PECVD Deposition and Characterization of Thick Silica Film for Optical Waveguide[J]. Acta Optica Sinica, 2004, 24(1): 24.

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