激光与光电子学进展, 2016, 53 (2): 023101, 网络出版: 2015-12-25
GexAsySe1-x-y硫系玻璃薄膜拉曼光谱分析 
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Structural Analysis of GexAsySe1-x-y Chalcogenide Glass Thin-Films by Raman Spectroscopy
基本信息
| DOI: | 10.3788/lop53.023101 |
| 中图分类号: | O484.4 |
| 栏目: | 薄膜 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金(11474014)、北京市教育委员会科技计划重点项目(Kz2011100050010) |
| 收稿日期: | 2015-07-16 |
| 修改稿日期: | 2015-08-10 |
| 网络出版日期: | 2015-12-25 |
| 通讯作者: | 李宬汉 (lichenghan11@163.com) |
| 备注: | -- |
李宬汉, 王丽, 甘渝林, 苏雪琼. GexAsySe1-x-y硫系玻璃薄膜拉曼光谱分析[J]. 激光与光电子学进展, 2016, 53(2): 023101. Li Chenghan, Wang Li, Gan Yulin, Su Xueqiong. Structural Analysis of GexAsySe1-x-y Chalcogenide Glass Thin-Films by Raman Spectroscopy[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2016, 53(2): 023101.
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