激光与光电子学进展, 2016, 53 (2): 023101, 网络出版: 2015-12-25
GexAsySe1-x-y硫系玻璃薄膜拉曼光谱分析 下载: 533次
Structural Analysis of GexAsySe1-x-y Chalcogenide Glass Thin-Films by Raman Spectroscopy
Metrics
摘要访问:6794次
PDF 下载:531次
全文浏览:2次
总被查询:0次
李宬汉, 王丽, 甘渝林, 苏雪琼. GexAsySe1-x-y硫系玻璃薄膜拉曼光谱分析[J]. 激光与光电子学进展, 2016, 53(2): 023101. Li Chenghan, Wang Li, Gan Yulin, Su Xueqiong. Structural Analysis of GexAsySe1-x-y Chalcogenide Glass Thin-Films by Raman Spectroscopy[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2016, 53(2): 023101.