以Nd∶YAG透明陶瓷为增益介质, 搭建了一套激光性能评估系统, 研究了Nd∶YAG透明陶瓷的尺寸对激光性能的影响。实验结果表明, 当Nd∶YAG透明陶瓷的尺寸较小时, 在相同抽运功率下, 激光输出功率随着尺寸的增加而增大, 但增幅有所下降; 当Nd∶YAG透明陶瓷的尺寸为3 mm×3 mm×9 mm时, 获得了功率为4.94 W的连续激光输出, 相应的斜率效率为37.7%; 当抽运功率为17 W时, 激光输出功率随Nd∶YAG透明陶瓷尺寸变化的数值模拟结果与实验结果相吻合; 与Nd∶YAG单晶相比, Nd∶YAG透明陶瓷可通过提高掺杂浓度来提升激光性能。

为了检验软件模拟道路照明特性的可行性, 从几种不同配光曲线的LED路灯的仿真结果出发, 按照规范的方法实测了它们的路面照度。比较发现, 同一路面上各点的照度与仿真值之间有着相同的比值。进一步计算发现, 两者的照度均匀度相等。这表明仿真软件能比较准确地反映路灯的路面照明效果。另外, 还研究了路灯的光衰性能, 发现散热性能好的灯具光衰更慢, 寿命更长。

硅基光电集成技术是当代高速信息化的重要发展方向之一。为了研究制备在硅衬底上的新型发光材料，突破Nd∶YAG固体激光工作物质主要是晶体、透明陶瓷等固体形态的限制，采用电子束蒸发沉积工艺，在硅(100)衬底上制备了Nd∶YAG薄膜，并对Nd∶YAG薄膜的表面形貌、晶体结构、光学特性进行了测试。X射线和扫描电子显微镜测试结果显示，Nd∶YAG薄膜经1100℃真空高温退火处理1h后有效结晶，采用钛蓝宝石激光器输出808nm激光激发，液氮冷却的InGaAs阵列探测器室温下得到Nd∶YAG薄膜的1064nm主荧光峰的荧光光谱。结果表明，采用电子束蒸发沉积和后续高温退火工艺可以在硅衬底上制备Nd∶YAG晶体薄膜。

采用真空电子束蒸发镀膜工艺制备纳米厚度的Nd:YAG薄膜，经1 100 °C真空高 温退火处理使Nd:YAG薄膜有效结晶，对Nd:YAG薄膜的表面形貌、晶体结构、光致发光特性 进行了测试。

为适应半导体产业的迅猛发展和环保节能的迫切要求，将LED作为一种新的能源方式应用到照明产业中。选取几种有代表性的LED路灯作为研究对象，根据各自不同形状的配光曲线，利用照明仿真软件Dialux对这些LED灯具在不同的布灯方式下在道路上的光照度分布情况进行模拟和分析比较，总结出适合于道路照明的LED路灯应具有的配光曲线特征，为LED灯具设计提供参考。

通过对宽光谱膜厚监控原理分析，设计出一套便携的嵌入式宽光谱在线膜厚监控系统。该系统基于ARM9内核微控制器S3C2440, 采用Linux操作系统,使用跨平台Qt2开发可实时监控界面。系统通过USB光纤光谱仪采集光谱数据，S3C2440微控制器对采集的光谱数据通过宽光谱扫描、评价函数、单波长极值等多种方法进行综合处理，最终达到监控镀膜过程中的光学膜厚的目的。系统测试表明，该系统测量精度高、测量速度快且便于携带。

介绍一种复合光路宽光谱膜厚监控系统及其软硬件开发,对系统结构组成和工作原理进行说明。通过增加中间通光孔式的分光镜的复合光路,基于LabVIEW平台开发宽光谱膜厚监控软件,实现了基于宽光谱扫描法的宽光谱膜厚监控和基于极值法的光学膜厚监控的兼容并用,提高了光学镀膜膜厚监控的精确性和自动化,为传统光学镀膜设备的升级改造提出了一种可行性技术。

为了解决传统配光曲线只能反映LED发光二维特性、立体感太差及不便于人为观察比较的难题，提出一种新的基于高级图像编程语言(LabVIEW)的LED三维特性(光强空间分布)快速检测方法。在传统光强空间分布检测方法的基础上，采用多路光度探测单元同步测试，可在0.2s内一次性由31个探测单元同步测得LED光源的二维光强空间分布（配光曲线）。通过增加旋转机构转动待测LED样品，依次测得i(i=180°/α)条配光曲线。最后由自研软件将i条配光曲线进行数据汇总处理，便可得到LED光源的光强空间分布的三维立体图。该检测方法具有速度快、精度高、信息量大等优点，并且具有实时性和直观性。

介绍了一种基于高级图像编程语言(LabVIEW)的LED光源特性检测系统。检测系统是基于运动导轨、多测试工位、计算机控制开发的，集成多种LED特性测试仪器，实现LED光源的光、电、色等综合发光特性的自动连续测试。该系统具有综合、自动、集成、连续、在线的突出优点，大大提高测试效率、测试数据和结果的可靠性、准确性，解决了传统测试方法的分散、效率低和测试误差大的缺点。还介绍了自主开发系统软件的设计原理，并分析了在此基于LabVIEWr的检测系统中应用软件功能的实现,包括测试数据的汇总、计算、分析处理等。还附上相关的实验数据对检测系统加以验证说明。

激光诱导荧光(LIF)检测作为目前灵敏度最高的检测技术之一,在生物、化学、医学等领域应用广泛,其本身的技术发展也十分迅速。综述了近年来LIF检测系统、荧光探针、荧光分析技术和应用领域的进展,重点介绍了LIF激光光源、光纤光路LIF系统、多通道LIF系统以及LIF成像的最新进展和应用前景。