提出了一种基于一定频率内平均吸收的太赫兹(THz)波振幅成像新方法。 太赫兹波频率在0.1～10 THz之间, 波段位于红外和微波之间。 太赫兹波成像技术的一个显著特点是信息量大, 如何对每个样品点的大量信息进行处理提取有用信息重构出样品的图像是一项关键技术。 选用中间挖空有“THz”字样的白纸为样品作太赫兹波成像研究, 首先探讨了时域和频域上几种常用太赫兹波振幅成像方法所反映的样品信息及其特点, 进一步使用提出的基于一定频率内平均吸收的太赫兹波振幅成像新方法对样品进行图像重构。 实验结果表明这种新方法可以很好的反映样品的真实信息, 反映了样品在一定频率范围内由于吸收而引起的效果的综合, 与吸收系数和厚度相关, 离散效应得到了很好的消除, 相对几种常用的太赫兹波振幅成像方法能够得到更清晰的图像。 此新方法尤其适用于结构简单的样品, 能够成为几种常用振幅成像方法的有力补充。

介绍了上海光源硬X射线微聚焦光束线站（BL15U1）的高精度样品定位系统。 该系统由离线样品显微镜系统、 在线样品实验系统和高精度定位样品架三部分组成。 通过编译控制程序、 样品架定位、 坐标转换， 将样品的在线X射线荧光成像实验和离线显微镜观察进行有效结合， 首次在国内同步辐射装置上实现样品在微米范围内的快速离线定位。 该系统帮助科研工作者在利用微束X射线研究物质微区特征时， 快速准确地寻找微区研究对象。 利用金网进行X射线荧光成像实验， 对比离线高倍显微镜下金网各结点的坐标， 对样品定位系统的精度进行验证。 结果表明， 该样品定位系统在X方向的平均误差为1.3 μm， Z方向的平均误差为2.5 μm。 该系统不仅简便快速、 准确可靠， 节约宝贵的实验时间， 也为同步辐射微聚焦线站开展样品自动对焦方法提供技术前提。

The propagation behaviour of terahertz (THz) pulses at an edge is characterized. The phenomenon that the amplitude oscillates periodically in the frequency spectrum is similar to Young's interference, if the absorption effect is neglected. The oscillation cycle is shorter for a thicker sample. THz pulses at an edge are analyzed by the broadband Huygens-Fresnel diffraction integral. The experimental results are in agreement with the simulation results approximately. The simulation errors are also analyzed.

利用太赫兹时域光谱装置测量各种纯化合物的吸收谱,采用线性回归技术,对测量的化学混合物太赫兹吸收谱进行分析,得到样品中化合物的成分和相对含量.通过对蒽醌、苯醌和二苯甲酮混合物太赫兹吸收谱的研究,证实了利用整个测量波段的频谱作为化合物的指纹特征来分析化学混合物的成分和相对含量的方法是可行的.

通过THz(Terahertz)波的相位信息和振幅信息来解析出样品某些可用于成像的参量；并且对THz波相位信息成像和振幅信息成像进行了比较．结果显示：当样品对THz波的吸收比较小时，利用THz波的相位信息进行成像比通过振幅信息进行成像质量要好一些；时域谱峰值位置的漂移会对相位信息成像产生较大的影响．实验中发现输出光谱中出现了劈裂现象，即由输入的单峰变成了双峰．分析表明，这一现象是由样品内部厚度或折射率突变导致的，该现象可用于THz波轮廓成像研究．