在相同的曝光和显影条件下，用D-19和Phenisol两种显影液定性比较了SIOFM-5FW底片、Kodak101-05和Ilford-Q板在100.0 nm以下的软Ｘ射线和XUV波段范围里的曝光特性.比较实验表明，SIOFM-5FW底片对波长大于10.0 nm的辐射的响应介于Kodak101-05和Ilford-Q板之间；对于10.0 nm以下的短波长区，SIOFM-5FW比Kodak101-05灵敏，而且有较高的饱和光密度值和动态范围，但存在明显的碳Ｋ吸收边结构。讨论了所用的两种显影液对底片曝光特性的影响。
软X射线底片 透射光栅 显影液
中国科学院上海光学精密机械研究所, 上海 201800
利用掠入射反射短波截止原理,成功地实现了平场光栅谱仪的无级次重叠摄谱.实验结果表明,利用该方法来消除平场光栅谱仪中短波长的高级谱对所考察波段的一级谱的影响是简便而有效的.实验获得了镁激光等离子体在4.4～5.6nm,5.9～11.8nm,7.0～14.0nm三个不同波段的近似的纯一级谱.
消级次重叠 平场光栅谱仪 软X射线光谱
1 中国科学院上海光学精密机械研究所激光等离子体物理研究室, 上海 201800
2 中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理实验室, 上海 201800
中国科学院上海光学精密机械研究所, 上海 201800
研制成一台由柱面反射镜和球面反射镜组成的掠入射前置光学系统和变间距球面光栅组成的掠入射平场光栅谱仪,它不仅有较高的效率和光谱分辨,调整方便,而且还具有在4.4nm～30nm波长范围里同时获得一维空间分辨光谱的能力.用该谱仪成功地获得了线聚焦激光产生的Si,Cu及其它元素的等离子体柱的轴向空间分辨光谱.该谱仪很适合与具有平直接收表面的光电探测器,如软X射线条纹相机等联用以获得时间分辨光谱.
消像散掠入射平场光栅谱仪 空间分辨光谱 线聚焦激光等离子体
中国科学院上海光学精密机械研究所, 上海 201800
本文报道在上海光机所LF12＃激光装置上利用自制极紫外掠入射光栅摄谱仪,进行类Na铜离子复合泵浦软X射线激光研究的初步实验结果,低泵浦条件下(2.5×1012W/cm2)的光谱表明,得到自发发射放大是有希望的。文章还给出了类Na等电子数序列离子复合激光波长与原子序数的关系及推广到水窗波段的可能性。
XUV光谱 X激光 类Na离子
本文描述了环面镜-掠入射光栅谱仪系统获得激光等离子体空间分辨XUV光谱的原理,系统结构参数和实验结果,并讨论了这种环面镜技术和交叉狭缝技术各自的优缺点。
激光等离子体 XUV光谱学 空间分辨光谱
本文描述了最近进行的复合泵浦类锂硅离子软X射线激光增益实验结果。利用1m消像散掠入射光栅谱仪拍摄了平面硅靶线聚焦激光等离子体在5～12nm波长范围里的光谱。利用线聚焦激光等离子体轴向和非轴向光谱的时间积分强度比求得Si11+5f-3d (8.89 nm)和5d-3p(8.73nm)跃迁的增益系数分别为1.4和0.9 cm-1;用轴向强度随线聚焦激光等离子体长度的变化得到离靶面300μm处的增益系数分别为1.5和1.4 cm-1。
类锂离子 软X射线激光 增益系数
在上海光机所6路激光装置上成功地进行了软X射线激光增益实验,利用自制的一维空间分辨掠入射光栅光谱仪研究了1mm厚平板靶激光等离子体中铝和硅的类锂离子的自发发射放大(ASE)性能.实验表明,Al10+离子的5f-3d跃迁(波长10.57nm)的时间积分发射强度随线状等离子体的长度非线性增长,相应的增益系数为2.3±0.7cm-1,最大增益长度乘积约为2; 空间分辨光谱显示增益最大的区域离靶面约440μm.
X射线激光 增益 类锂离子
本文描述了自制的带环面镜的消像散掠入射球面光栅谱仪的设计和性能,并报告了利用它在20～120(?)波层范围观(?)铍,碳氟二锂和氟化钙的激光等与子体极紫外发射光谱的实验结果.
极紫外光谱学 激光等离子体 掠入射谱仪 环面镜
