在氩气/空气的混合气体近大气压介质阻挡放电中, 首次观察到点状与线状放电共存的放电现象, 测量比较了点状与线状放电的谱线频移和振动温度。 谱线频移的测量利用的是氩原子ArⅠ(2P2→1S5）的发射谱线, 振动温度的测量利用的是氮分子第二正带系(C3Πu→B3Πg) 的发射谱线。 结果表明: 点放电中的ArⅠ(2P2→1S5）谱线的频移大于线放电谱线的频移, 表明前者电子密度较高; 而点放电振动温度低于线放电的振动温度。

在氩气/空气混合气体的介质阻挡放电中, 研究了直径及运动状态均不同的两种放电丝发光中Ar Ⅰ(2P2→1S5)谱线的频移以低气压(10 Pa左右)的氩气放电发射的Ar Ⅰ(2P2→1S5)光谱线作标准线和展宽随空气含量的变化。 在大气压条件下, 当空气含量从0.4%变化到4%时, 观察到了规则排列的静止的粗放电丝(静止大点)与运动的细放电丝 (往复运动的小点, 其轨迹为细线)两种不同的放电丝。 分别测量了大小点中Ar I(2P2→1S5)谱线的频移及其随空气含量的变化, 结果发现: 二者均随空气含量的增加而增大； 在任一空气含量下小点谱线的频移均大于大点的频移, 二者差值先是减少至空气含量为1%后两者的频移变化趋势大体同步。

测量了大气压环境下氩气空心针—板放电等离子体中原子与分子谱线强度的空间分布， 分析了等离子体中电子能量的空间分布。 实验利用空心针—板放电装置， 得到了约3 cm长的放电等离子体弧。 在300～800 nm范围内采集发射光谱， 发现了强度较高的ArⅠ谱线、 N2第二正带系谱线Ｃ ３Πｕ（ν′＝０）→Ｂ ３Πｇ（ν″＝０）以及强度较弱的OⅠ谱线。 实验测量了Ｎ２谱线（337.1， 357.6及380.4nm）、 氩原子谱线（696.54， 763.51， 772.42及794.82 nm）和OⅠ 777.2 nm谱线强度的空间分布， 结果表明: 氮分子谱线强度由弧根开始逐渐升高， 当距离弧根12 mm时强度达到最大值并开始下降; 氩原子谱线强度由弧根到弧梢逐渐降低; 氧原子谱线强度从弧根开始逐渐升高， 当距离弧根6 mm时强度达到最大值并开始下降。 定性地讨论了等离子体弧中电子能量分布， 发现距离弧根为6 mm处电子能量最高， 而弧根处电子能量最低。

利用大直径双水电极介质阻挡放电装置, 在氩气和空气的混合气体中观察到了相同实验条件下不同边界的放电区域出现不同放电模式的实验现象。 其中正方形封闭边界内可形成规则的斑图, 而半开放放电区域只能看到随机游走的放电丝。 通过采集发射光谱发现封闭边界内激发能较高的几条谱线如696.5, 727.3, 750.4和772.4 nm的相对强度随电压的升高而增大, 半开放边界内这几条谱线的相对强度随电压的升高略有下降。 此结果表明封闭边界内的电子平均能量要高于半开放边界, 并且差别随电压增大而增加。 利用氮分子第二正带系谱线计算得到的分子振动温度结果显示封闭边界内的分子振动温度随电压增大而升高, 半开放边界内分子振动温度随电压增大而下降。

在狭缝微等离子体中, 研究了Ar Ⅰ(2P2→1S5)光谱线的展宽和频移随放电参数的变化。 为了测量谱线频移, 采用低气压(10 Pa左右)氩气放电发射的Ar Ⅰ光谱线作为参考线。 实验在氩气含量为99.92%的氩气/空气放电中, 测量了气压从1×104 Pa增大到6×104 Pa时Ar Ⅰ谱线的频移和展宽。 结果表明随着气压的升高, Ar Ⅰ谱线的展宽和频移均线性增大, 说明电子密度随着气压的升高而增大。 实验还研究了放电气隙间距为100及300 μm时, Ar Ⅰ发射谱线的频移及展宽的变化, 结果发现随着放电气隙间距的增加, 谱线的频移及展宽均增加, 表明电子密度随着放电气隙间距的增大而升高。