1 四川大学光电科学技术系, 成才610064
2 西南交通大学,
比较相同偏置条件下镀减反射膜前后的半导体激光器端面自发辐射谱，测得了端面反射率随波长变化的关系曲线。该方法突破了Kaminow法单一波长测量的限制，同时也避免了Kaminow法在两端面镀膜后所遇到的调制度过小的问题。实验中确定出了低于8×10(-5)的第二镀膜端面反射率。
半导体激光器 减反射膜 端面自发辐射谱
本文分析了单色仪出射狭缝宽度对半导体激光器镀膜端面反射率测量的影响,理论预言了调制度和反射率的测量值以及测量谱中波峰和波谷的位置随缝宽周期性变化的规律。实验结果证实了理论预测的正确性。
半导体激光器 光栅单色仪 调制度 端面剩余模式反射率
在引入光场与掺杂分布的重迭因子后,对1.48 μm波段泵浦的掺饵光纤放大器的速率方程组进行了解析求解,并利用有关的表达式对放大器的重要特性进行了讨论和分析。
掺铒光纤放大器 速率方程组
