作者单位
摘要
四川大学光电科学系, 成都 610064
本文分析了单色仪出射狭缝宽度对半导体激光器镀膜端面反射率测量的影响,理论预言了调制度和反射率的测量值以及测量谱中波峰和波谷的位置随缝宽周期性变化的规律。实验结果证实了理论预测的正确性。
半导体激光器 光栅单色仪 调制度 端面剩余模式反射率 
中国激光
1993, 20(5): 349

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