研究了光纤的辐照损伤机理, 对纯硅芯光纤与传统芯层掺杂光纤的结构特点进行了系统地分析, 从结构组成特点上分析了两者的抗辐照性能差异。研究了国内外关于光纤的抗辐照试验标准, 对各标准中剂量率、总剂量等试验条件差异进行了对比, 并对不同剂量率对光纤辐照试验结果的影响进行了分析, 给出了光纤在空间辐照环境条件下应用的γ辐照试验条件的选择原则。最后, 采用0.1 rad(Si)/s剂量率对某国产纯硅芯光纤的抗辐照性能进行了试验评估, 光纤在20 k rad(Si)总剂量辐照后光纤损耗为1.934 dB/km。空间辐照性能评估结果满足该项目的宇航型号的空间环境使用需求, 辐照评估结论为可用。